采用開(kāi)路測(cè)電阻法判別集成電路好壞比較準(zhǔn)
發(fā)布時(shí)間:2019/2/18 22:30:07 訪問(wèn)次數(shù):3184
采用開(kāi)路測(cè)電阻法判別集成電路好壞比較準(zhǔn),并且對(duì)大多數(shù)集成電路都適用,其缺點(diǎn)是檢測(cè)時(shí)需要找一個(gè)同型號(hào)的正常集成電路作為對(duì)照,解決這個(gè)問(wèn)題的方法是平時(shí)多測(cè)量一些常用集成電路的開(kāi)路電阻數(shù)據(jù),PACSZ1284-04QR以便以后檢測(cè)同型號(hào)集成電路時(shí)作為參考,另外也可查閱一些資料來(lái)獲得這方面的數(shù)據(jù)。圖14-19是一種常用的內(nèi)部有四個(gè)運(yùn)算放大器的集成電路LM324,表14~o^中列出其開(kāi)路電阻數(shù)據(jù),測(cè)量使用數(shù)字萬(wàn)用表⒛flm擋,表中有兩組數(shù)據(jù),一組為紅表筆接11腳(接地腳)、黑表筆接其他各腳測(cè)得的數(shù)據(jù),另一組為黑表筆接11腳、紅表筆接其他各腳測(cè)得的數(shù)據(jù),在檢測(cè)LM324好壞時(shí),也應(yīng)使用數(shù)字萬(wàn)用表的⒛Clm擋,再將實(shí)測(cè)的各腳數(shù)據(jù)與表中數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照來(lái)判別所測(cè)集成電路的好壞.
采用開(kāi)路測(cè)電阻法判別集成電路好壞比較準(zhǔn),并且對(duì)大多數(shù)集成電路都適用,其缺點(diǎn)是檢測(cè)時(shí)需要找一個(gè)同型號(hào)的正常集成電路作為對(duì)照,解決這個(gè)問(wèn)題的方法是平時(shí)多測(cè)量一些常用集成電路的開(kāi)路電阻數(shù)據(jù),PACSZ1284-04QR以便以后檢測(cè)同型號(hào)集成電路時(shí)作為參考,另外也可查閱一些資料來(lái)獲得這方面的數(shù)據(jù)。圖14-19是一種常用的內(nèi)部有四個(gè)運(yùn)算放大器的集成電路LM324,表14~o^中列出其開(kāi)路電阻數(shù)據(jù),測(cè)量使用數(shù)字萬(wàn)用表⒛flm擋,表中有兩組數(shù)據(jù),一組為紅表筆接11腳(接地腳)、黑表筆接其他各腳測(cè)得的數(shù)據(jù),另一組為黑表筆接11腳、紅表筆接其他各腳測(cè)得的數(shù)據(jù),在檢測(cè)LM324好壞時(shí),也應(yīng)使用數(shù)字萬(wàn)用表的⒛Clm擋,再將實(shí)測(cè)的各腳數(shù)據(jù)與表中數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)照來(lái)判別所測(cè)集成電路的好壞.
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