恒定應(yīng)力試驗(yàn)在電子材料與元器件中得到廣泛應(yīng)用
發(fā)布時(shí)間:2019/4/13 20:23:26 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):4719
序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn),對(duì)受試驗(yàn)品施加應(yīng)力的方式是以一定速率線(xiàn)性增加應(yīng)力,其試驗(yàn)應(yīng)力強(qiáng)度S(t)與時(shí)間f的關(guān)系。它將試驗(yàn)樣品分成幾組,每組試驗(yàn)應(yīng)力 按不同速率線(xiàn)性增加,直到樣品有一定數(shù)量失效為止。 利用這些加速試驗(yàn)方法,可以確定器件的失效界限,所以也稱(chēng)為臨界試驗(yàn),通過(guò)臨界 試驗(yàn)不僅可以知道臨界壽命,還可以了解器件承受機(jī)械強(qiáng)度、電浪涌等的耐量!谄趬 命加速試驗(yàn)中,這四種方法已經(jīng)實(shí)際使用,其中,恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)稱(chēng)怍“標(biāo)準(zhǔn)試 驗(yàn)”。恒定應(yīng)力試驗(yàn)在電子材料與元器件中得到廣泛應(yīng)用,步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)在元器件加速壽 命試驗(yàn)中也開(kāi)始得到應(yīng)用,而序進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)僅在電子材料中得到一定的應(yīng)用。
步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)(又稱(chēng)階梯應(yīng)力加速壽命試驗(yàn))步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn),對(duì)受試樣品施加應(yīng)力的方式是以階梯形式逐步地提高,其試驗(yàn)應(yīng)力強(qiáng)度S(t)是試驗(yàn)時(shí)間£的階梯函數(shù),如圖3.lc所示。它將一定數(shù)量的樣品分成幾組,每組固定一個(gè)時(shí)間間隔逐級(jí)增加階梯函數(shù)應(yīng)力,在此應(yīng)力情況下試驗(yàn),直到樣品有一定數(shù)量失效為止。
所謂特殊檢測(cè)試驗(yàn)是用特殊的設(shè)備或儀器進(jìn)行試驗(yàn)或檢測(cè)。它在可靠性篩選和失效分析中使用較多,主要用于非破壞試驗(yàn)和失效樣品的分析。如紅外熱譜檢測(cè),可檢測(cè)出電子元器件及材料設(shè)計(jì)不合理或存在雜質(zhì)、缺陷等,因?yàn)樵谶@些弱點(diǎn)處將產(chǎn)生局部過(guò)熱或出現(xiàn)過(guò)熱區(qū),用紅外線(xiàn)探測(cè)或照相便可在使用前把這些不可靠的產(chǎn)品篩選掉。特殊檢測(cè)的有關(guān)問(wèn)題將在失效分析中進(jìn)一步論述。
它是在高于正常應(yīng)力的幾個(gè)應(yīng)力水平下,將一定數(shù)量的樣品分成相應(yīng)組數(shù),每組固定 一個(gè)應(yīng)力水平進(jìn)行壽命試驗(yàn),一直試驗(yàn)到每組樣品有一定數(shù)量的樣品失效為止,然后根據(jù) 失效數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。此種斌驗(yàn)的應(yīng)力強(qiáng)度S(t)與時(shí)間£無(wú)關(guān)。
與恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)的區(qū)別是,周期應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)周期性地對(duì)器件施加應(yīng)力, 用來(lái)了解應(yīng)力對(duì)器件失效的影響情況,試驗(yàn)需要確定周期量參數(shù)。
序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn),對(duì)受試驗(yàn)品施加應(yīng)力的方式是以一定速率線(xiàn)性增加應(yīng)力,其試驗(yàn)應(yīng)力強(qiáng)度S(t)與時(shí)間f的關(guān)系。它將試驗(yàn)樣品分成幾組,每組試驗(yàn)應(yīng)力 按不同速率線(xiàn)性增加,直到樣品有一定數(shù)量失效為止。 利用這些加速試驗(yàn)方法,可以確定器件的失效界限,所以也稱(chēng)為臨界試驗(yàn),通過(guò)臨界 試驗(yàn)不僅可以知道臨界壽命,還可以了解器件承受機(jī)械強(qiáng)度、電浪涌等的耐量。’在疲勞壽 命加速試驗(yàn)中,這四種方法已經(jīng)實(shí)際使用,其中,恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)稱(chēng)怍“標(biāo)準(zhǔn)試 驗(yàn)”。恒定應(yīng)力試驗(yàn)在電子材料與元器件中得到廣泛應(yīng)用,步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)在元器件加速壽 命試驗(yàn)中也開(kāi)始得到應(yīng)用,而序進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)僅在電子材料中得到一定的應(yīng)用。
步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)(又稱(chēng)階梯應(yīng)力加速壽命試驗(yàn))步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn),對(duì)受試樣品施加應(yīng)力的方式是以階梯形式逐步地提高,其試驗(yàn)應(yīng)力強(qiáng)度S(t)是試驗(yàn)時(shí)間£的階梯函數(shù),如圖3.lc所示。它將一定數(shù)量的樣品分成幾組,每組固定一個(gè)時(shí)間間隔逐級(jí)增加階梯函數(shù)應(yīng)力,在此應(yīng)力情況下試驗(yàn),直到樣品有一定數(shù)量失效為止。
所謂特殊檢測(cè)試驗(yàn)是用特殊的設(shè)備或儀器進(jìn)行試驗(yàn)或檢測(cè)。它在可靠性篩選和失效分析中使用較多,主要用于非破壞試驗(yàn)和失效樣品的分析。如紅外熱譜檢測(cè),可檢測(cè)出電子元器件及材料設(shè)計(jì)不合理或存在雜質(zhì)、缺陷等,因?yàn)樵谶@些弱點(diǎn)處將產(chǎn)生局部過(guò)熱或出現(xiàn)過(guò)熱區(qū),用紅外線(xiàn)探測(cè)或照相便可在使用前把這些不可靠的產(chǎn)品篩選掉。特殊檢測(cè)的有關(guān)問(wèn)題將在失效分析中進(jìn)一步論述。
它是在高于正常應(yīng)力的幾個(gè)應(yīng)力水平下,將一定數(shù)量的樣品分成相應(yīng)組數(shù),每組固定 一個(gè)應(yīng)力水平進(jìn)行壽命試驗(yàn),一直試驗(yàn)到每組樣品有一定數(shù)量的樣品失效為止,然后根據(jù) 失效數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。此種斌驗(yàn)的應(yīng)力強(qiáng)度S(t)與時(shí)間£無(wú)關(guān)。
與恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)的區(qū)別是,周期應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)周期性地對(duì)器件施加應(yīng)力, 用來(lái)了解應(yīng)力對(duì)器件失效的影響情況,試驗(yàn)需要確定周期量參數(shù)。
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