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   為評(píng)價(jià)、分析電子元器件的可靠性，在使用現(xiàn)場進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)稱為現(xiàn)場使用試驗(yàn)。現(xiàn)場可靠性試驗(yàn)可以真實(shí)地反映出產(chǎn)品在實(shí)際使用條件下的可靠性水平，因而是最符合實(shí)際情況的試驗(yàn)。上面幾種試驗(yàn)是在試驗(yàn)室中進(jìn)行的模擬試驗(yàn)，其正確與否，有待于實(shí)際使用或現(xiàn)場可靠性試驗(yàn)來驗(yàn)證。有時(shí)在試驗(yàn)室模擬試驗(yàn)沒有發(fā)現(xiàn)的問題，而在實(shí)際使用或現(xiàn)場可靠性試驗(yàn)中會(huì)暴露出來。這是因?yàn)樵囼?yàn)室模擬試驗(yàn)只是選用一種或兩種應(yīng)力進(jìn)行的，而實(shí)際使用中，往往是多種應(yīng)力同時(shí)綜合作用于樣品上，它對(duì)元器件所帶來的影響是復(fù)雜的、綜合全面的，這不是試驗(yàn)室模擬試驗(yàn)所能完全達(dá)到的。因此，現(xiàn)場可靠性試驗(yàn)或現(xiàn)場使用試驗(yàn)是可靠性工程的重要內(nèi)容，可以作為設(shè)訐、制造過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)來加以規(guī)定。

    現(xiàn)場使用試驗(yàn)還可以分析元器件篩選效果，便于制定和修改元器件篩選工藝規(guī)范。要建立現(xiàn)場使用和失效記錄檔案，完整而精確地收集各種現(xiàn)場使用試驗(yàn)數(shù)據(jù)，包括使用 時(shí)間、工作狀態(tài)、環(huán)境條件、受試元器件性能及其變化情況，失效狀態(tài)及其原因等。由于試 驗(yàn)結(jié)果是從現(xiàn)場得來的，因此必須對(duì)這些結(jié)果進(jìn)行分析和研究，以保證結(jié)果的可靠性和完整 性，必要時(shí)要進(jìn)行現(xiàn)揚(yáng)的實(shí)際分析，以便對(duì)結(jié)果進(jìn)行再判斷、再分析，保證結(jié)論的正確性。雖然可靠性試驗(yàn)門類很多，不同試驗(yàn)?zāi)懿杉讲煌臄?shù)據(jù)，但它們都反映了在不同階 段不同考核對(duì)象的可靠性水平是否達(dá)到了預(yù)定的可靠性指標(biāo)�？煽啃灾笜�(biāo)實(shí)際上就是可靠 性試驗(yàn)的失效判據(jù)。采用不同的失效判據(jù)，其可靠性評(píng)價(jià)的結(jié)果就會(huì)不同。為了通過可靠 性試驗(yàn)?zāi)軠?zhǔn)確地對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)，除了要精確地確定失效判據(jù)外，還要注意正確地 選用抽樣方法和選用合適的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。下面就對(duì)失效判據(jù)和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行介紹。現(xiàn)場使用試驗(yàn)可以達(dá)到如下目的。

   對(duì)元器件現(xiàn)場使用的失效分類統(tǒng)計(jì)，判別各類失效模式的百分比，為改進(jìn)元器件可靠性提供依據(jù)。這不僅能促進(jìn)該產(chǎn)品可靠性的提高，還為進(jìn)一步研制新產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)與制造打下一個(gè)良好的基礎(chǔ)；通過現(xiàn)場使用試驗(yàn)，可以分析自然環(huán)境應(yīng)力的大小對(duì)元器件可靠性影響的程度，從而確定元器件的環(huán)境保護(hù)工藝措施及環(huán)境試驗(yàn)方法，制定合理的環(huán)境試驗(yàn)條件；收集元器件在現(xiàn)場使用的工作可靠性數(shù)據(jù)，可以進(jìn)行工作可靠性統(tǒng)計(jì)評(píng)估，為設(shè)備

設(shè)計(jì)中確定元器件可靠性指標(biāo)提供依據(jù)； 對(duì)元器件在實(shí)際使用條件下的失效率指標(biāo)與試驗(yàn)室內(nèi)規(guī)定條件下獲得的基本失效率指標(biāo)

進(jìn)行比較，從而獲得各種元器件應(yīng)用環(huán)境和使用條件等影響的修正系數(shù)( Modified  Coefficient)；