試驗(yàn)Ab:非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn),用以確定非散熱的電子電工產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品)低溫下存儲(chǔ)和使用的適應(yīng)性。將處于室溫的試驗(yàn)樣品,按正常位置放入試驗(yàn)箱內(nèi),開動(dòng)冷源,使試驗(yàn)箱溫度從室溫降低到規(guī)定試驗(yàn)溫度并使試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。箱內(nèi)溫度變化速率為不大于1℃燦in(不超過5min時(shí)間的平均值)。

M29W256GL

   試驗(yàn)Ad:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn),確定散熱電子電工產(chǎn)品(包括元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品)低溫條件下使用的適應(yīng)性。

   有關(guān)技術(shù)和設(shè)各要求

   有關(guān)技術(shù)。若試驗(yàn)的目的僅僅是檢查試驗(yàn)樣品在低溫時(shí)能否正常工作,則試驗(yàn)的時(shí)間只限于使試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定即可;若作為與低溫耐久性或可靠性相聯(lián)系的有關(guān)試驗(yàn)時(shí),則其試驗(yàn)所需的持續(xù)時(shí)間按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

   試驗(yàn)時(shí)要注意區(qū)分兩類試驗(yàn)樣品:無人工冷卻的試驗(yàn)樣品和有人工冷卻的試驗(yàn)樣品。無人工冷卻的試驗(yàn)樣品分為無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)和有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn),無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn),是模擬自由空氣條件影響的一種試驗(yàn)方法。有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn),有兩種方法。方法A適用于試驗(yàn)箱足夠大,不用強(qiáng)迫空氣循環(huán)也可滿足試驗(yàn)要求,但僅能借助空氣循環(huán)才能保持箱內(nèi)的環(huán)境溫度。方法B用于方法A不能應(yīng)用的場合,例如,用作試驗(yàn)的試驗(yàn)箱體積太小,當(dāng)無強(qiáng)迫空氣循環(huán)就不能符合試驗(yàn)要求的場合。