內引線與芯片在恒定加速度運動中受力狀態(tài)與一根金屬棒受力是不同的。

   (1)內引線是彎曲的,兩端同定。橫向受力與金屬棒一端固定,另一端施加拉力(平行軸向)的情況是不同的。

LE88010BQC

   (2)進行試驗的不是單一金屬棒,而是不同金屬間連接起來的復雜結構。由于恒定加速度應力級水平變化不是連續(xù)的,而是躍變的,試驗采用的恒定加速度應力級水平,不可能正好接近于且稍大干器件所能承受的最大應力,即不可能正好取在促使器件失效時的臨界狀態(tài)所需要的能量水平,所以,表現(xiàn)出失效是瞬間的,也就測不到反映失效前的過渡狀態(tài)的現(xiàn)象。如應力等級增大,而器件早就斷裂失效了。同時前一個恒定加速度應力級水平,又與器件發(fā)生失效的能量水平相差較多而看不到失效。所以,在大多數(shù)情況看不到過渡狀態(tài)。當器件失效所需的能量水平與恒定加速度應力水平相當時,就能看到前面所說的那種過渡狀態(tài)。器件內部存在結構缺陷,其失效的能量水平,就比結構完美的器件失效要低得多。要達到篩選日的,就要選取最佳的篩選應力級水平。這個應力級水平,應該選在稍高于有缺陷器件的失效能量水平,而遠離完好器件失效時所需的能量水平,這樣才能達到無損篩選試驗的日的。但有些“頑lAl”的缺陷,其失效所需的能量水平較高,在低的應力級水平下篩選不掉。采用高的應力級水平,雖然將這些有“頑固”缺陷的器件篩選下來,但這對完好器件也會產生不可忽視的損害,所以這樣的篩選是不可取的。