本試驗是檢測器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子。這是一種非破壞性試驗,適用于檢G1184TG1U測氣密封器件(有密封腔體的)電子產(chǎn)品,適用于GJB128方法20~b^2、GJB y8方法⒛⒛、GJB65B等。這些標準規(guī)定的試驗方法基本一致,且都是通過元器件的內(nèi)腔高度決定振動頻率。

    除了電磁繼電器,其內(nèi)部的特殊性(器件內(nèi)部有動觸點等活動單元)導致它試驗選取的沖擊脈沖與其他元器件不同外,一般電子元器件的沖擊都是lOO比,加速度分兩個條件:條件A和條件B,條件A加速度為2喈,條件B為lOg,主要根據(jù)產(chǎn)品的詳細規(guī)范或客戶要求進行選取。

   試驗儀器

   粒子碰撞噪聲檢氵貝刂(PIND)試驗需如下設備或與之等效的設備:

   1)一個閾值檢測器

   它能檢測出比相對于系統(tǒng)“地”的超過預置閾值峰值為20mV土lmV的粒子噪聲電壓。

   2)振動裝置和驅(qū)動裝置

   它們在下述條件下可對被試器件(DUT)提供基本為正弦的運動:

   (1)條件A――在40~250Hz時峰值為196Ws2。

   (2)條件B――頻率大于等于60Hz時峰值為98Ws2。

   3)PIND換能器

   其峰值靈敏度應在15o~160kHz范圍內(nèi)某個頻率上,以1W0,luPa要求校準(應以lV/0,luPa對應77,5dB±3dB的要求校準)。