儀器靈敏度校準(zhǔn)

   除用上述所示的靈敏度檢測裝置(STU)來定期評定PIND系統(tǒng)的性能外,還可以G1431F2U用以下方法進(jìn)行儀器靈敏度校準(zhǔn):將事先放入硅鋁絲引線作為模擬粒子的空體外殼耦合在振動臺上,此時應(yīng)有明顯粒子的信號輸出。將另一只同樣尺寸但其內(nèi)部沒有任何粒子的標(biāo)準(zhǔn)容器重復(fù)上述試驗(yàn),此時示波器上應(yīng)顯示出一條水平直線(除了背景噪聲外無粒子噪聲信號),若此時發(fā)現(xiàn)有尖峰信號,應(yīng)找出具體原因,并設(shè)法排除。

   試驗(yàn)程序及方法

   (l)將試驗(yàn)樣品(微電路等有內(nèi)腔的密封件)的最平滑、最大的一面用聲耦合劑黏合在振動臺上。

   (2)設(shè)置試驗(yàn)程序。

   ①先施以峰值加速度為(98O0±196ω ll△/′,一般選100比,延續(xù)時間不大于100Its的 沖擊脈沖,沖擊3次。

   ②再施以頻率為ω~130Hz,這里頻率的選擇與器件的內(nèi)腔高度有關(guān),如表⒋12所示。峰值加速度為196111s2或98Ws2的振動,振動時問3s±ls,上述程序循環(huán)4次,再對試驗(yàn)程序進(jìn)行全面的檢查,需連續(xù)按下“DSP”按鈕。

   (3)試驗(yàn)判據(jù):在監(jiān)測中,若由檢測設(shè)備指示出除背景噪聲之外的任何噪聲爆發(fā)(由沖擊本身引起的除外),都應(yīng)導(dǎo)致器件拒收。

   除另有規(guī)定外,批接收試驗(yàn)中用于篩選的檢驗(yàn)批(或子批)檢查,應(yīng)按條件A的要求進(jìn)行最多5次的100%PIND試驗(yàn)。不應(yīng)進(jìn)行PIND預(yù)篩選e在進(jìn)行的5次試驗(yàn)中,只要有一次試驗(yàn)的失效器件數(shù)少于1%,則認(rèn)為該批器件通過了試驗(yàn)。在每次試驗(yàn)后剔除失效的器件,若第5次試驗(yàn)時,失效器件數(shù)仍不小于l%或5次累計(jì)失效數(shù)超過25%,則該批器件應(yīng)被拒收,并且不允許對其重新進(jìn)行試驗(yàn)。