1dB壓縮點(diǎn)電平測試方法

   在規(guī)定條件下,G1084-33TU3UF測量微波混頻器由于高信號電平輸入,因混頻管工作于功率非線性區(qū)而使信號產(chǎn)生壓縮時的輸入信號電平。測試框圖見圖8-19。測試條件如下,具體數(shù)值參考相關(guān)規(guī)范的要求:

   (a)R端頻率血F和功率`RF;

   (b)L端頻率無o和功率`Lo;

   (c)中頻端輸出頻率范圍。

   按圖8-19連接系統(tǒng),測試儀器需要至少預(yù)熱半小時,并良好接地,設(shè)定本振信號源和射頻信號源的頻率和功率,設(shè)置頻譜儀的中心頻率及帶寬,從頻譜儀中讀出中頻輸出功率,將射頻功率PRF以1dB的步進(jìn)增加,則中頻功率P.・也相應(yīng)增加1dB,當(dāng)測出的中頻功率比預(yù)期值低1dB時,此時的射頻功率即為1dB壓縮點(diǎn)電平。

    隔離度測試方法

   在規(guī)定條件下,測量微波混頻器的射頻信號本振端與射頻端或中頻端的相對衰減量。測試框圖如圖⒏⒛和圖⒏21所示。

   圖⒏21 本振端與射頻端隔離度測試框圖

   測試條件如下,具體數(shù)值參考相關(guān)規(guī)范的要求:

   (a)L端頻率允o和功率PL。

   (b)頻譜分析儀頻率范圍。

   按圖8-⒛和圖8砭1測試框圖連接系統(tǒng),測試儀器至少需要預(yù)熱半小時,并良好接地,設(shè)定本振信號源的頻率和功率,設(shè)置頻譜儀的中心頻率及帶寬,從頻譜儀中讀出輸出功率。