引線電阻

   外殼的引線電阻測試一般規(guī)定按GJB3ωB―⒛09《電子及

   電氣元件試驗(yàn)方法》中方法進(jìn)行,使用電阻電橋法或其他適用的

測試儀器及測試方法進(jìn)行。 K4B2G0846B-HCF7比較傳統(tǒng)的方法是采用直流雙臂電橋

法來測量引線電阻。

   直流雙臂電橋又稱凱爾文電橋,主要用于測量低值電阻。如圖13叫所示,圖中Rl、R2、R3、R。均為可調(diào)電阻,是被測低f電阻,Rs是低值標(biāo)準(zhǔn)電阻。

   當(dāng)電橋平衡時(shí),檢流計(jì)中無電流通過,D和B兩點(diǎn)電勢相等,根據(jù)基爾霍夫第二定律列出方程組,解得調(diào)節(jié)可調(diào)電阻的阻值,使土=生,則上式化簡為Rx 青凡,較易測得阻值。

   目前測引線電阻一般都選用數(shù)字多用表或低頻電阻測試儀測量。精密的數(shù)字多用表可測量到10藹Ω量級,可以足夠精確測量引線電阻。

電阻率,L為引線材料的長度(mm),s為引線橫截面積(mm2),從上式可以看出,要減小引線電阻必須減小引線長度,在允許范圍內(nèi)適當(dāng)增加引線橫截面,選用電阻率較小的引線材料和電鍍材料。引線電阻是封裝外殼所特有的金屬化引線電阻,引線電阻的測試方法一般是四探針法,將歐姆表低端的兩個(gè)探針盡可能靠近地置于外部引線的臺肩上或外部引線的中央,將歐姆表高端的兩根探針置于靠空腔端的引線末端0.1311m的范圍內(nèi),將歐姆表調(diào)至合適的量程測得引線電阻值。