交叉方式通過操作儀表按鈕實(shí)現(xiàn)電阻和電容使用并連測(cè)量方式
發(fā)布時(shí)間:2023/5/30 21:11:36 訪問次數(shù):44
輔助LCD上讀出電感的Q參數(shù)和電容的D參數(shù)。
人工量程方式可以人工轉(zhuǎn)換量程和選擇L、C、R的測(cè)量方式,得到比較精確的測(cè)量數(shù)值。其他同自動(dòng)量程方式。
LCR測(cè)試儀的使用注意事頂使用前,確認(rèn)測(cè)試儀的校驗(yàn)期。
測(cè)試頻率的選擇。高值元件應(yīng)在120Hz(或100Hz)下測(cè)量,低值元件在1kHz下測(cè)量。具體測(cè)量條件以廠家說明書為準(zhǔn)。
不同廠家生產(chǎn)的LCR測(cè)試儀,測(cè)試原理基本相同。比如,測(cè)量電阻的阻值,一般是檢測(cè)流過電阻的電流而換算出相應(yīng)的阻值;而電感和電容,是分別與已知的電容和電感組成的諧振電路,然后再根據(jù)諧振頻率計(jì)算得出。不同的儀表,只是在測(cè)試頻率的高低、測(cè)試精度的大小等方面有差別。
LCR測(cè)試儀的測(cè)量電路方式有串連方式、并連方式和交叉方式三種。
串連測(cè)量方式主要用于電阻和電容測(cè)量;并連測(cè)量方式主要用于電感測(cè)量;交叉方式主要通過操作儀表按鈕實(shí)現(xiàn)電阻和電容使用并連測(cè)量方式,電感使用串連測(cè)量方式。
場(chǎng)效應(yīng)晶體管是一種常見的電壓控制器件,易被靜電擊穿損壞,原則上不能用萬(wàn)用表直接檢測(cè)各引腳之問的正、反向阻值,可以在電路板上在路檢測(cè),或根據(jù)在電路中的功能搭建相應(yīng)的電路,然后進(jìn)行檢測(cè)。
場(chǎng)效應(yīng)晶體管的放大能力是最基本的性能之一,一般可使用指針萬(wàn)用表粗略測(cè)量場(chǎng)效應(yīng)晶體管是否具有放大能力,為結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管放大能力的檢測(cè)方法。
不論是自動(dòng)量程方式還是人置量程方式,由于電阻沒有D(損耗系數(shù))和Q(品質(zhì)因數(shù)),所以在電阻測(cè)量方式輔助LCD沒有顯示。
輔助LCD上讀出電感的Q參數(shù)和電容的D參數(shù)。
人工量程方式可以人工轉(zhuǎn)換量程和選擇L、C、R的測(cè)量方式,得到比較精確的測(cè)量數(shù)值。其他同自動(dòng)量程方式。
LCR測(cè)試儀的使用注意事頂使用前,確認(rèn)測(cè)試儀的校驗(yàn)期。
測(cè)試頻率的選擇。高值元件應(yīng)在120Hz(或100Hz)下測(cè)量,低值元件在1kHz下測(cè)量。具體測(cè)量條件以廠家說明書為準(zhǔn)。
不同廠家生產(chǎn)的LCR測(cè)試儀,測(cè)試原理基本相同。比如,測(cè)量電阻的阻值,一般是檢測(cè)流過電阻的電流而換算出相應(yīng)的阻值;而電感和電容,是分別與已知的電容和電感組成的諧振電路,然后再根據(jù)諧振頻率計(jì)算得出。不同的儀表,只是在測(cè)試頻率的高低、測(cè)試精度的大小等方面有差別。
LCR測(cè)試儀的測(cè)量電路方式有串連方式、并連方式和交叉方式三種。
串連測(cè)量方式主要用于電阻和電容測(cè)量;并連測(cè)量方式主要用于電感測(cè)量;交叉方式主要通過操作儀表按鈕實(shí)現(xiàn)電阻和電容使用并連測(cè)量方式,電感使用串連測(cè)量方式。
場(chǎng)效應(yīng)晶體管是一種常見的電壓控制器件,易被靜電擊穿損壞,原則上不能用萬(wàn)用表直接檢測(cè)各引腳之問的正、反向阻值,可以在電路板上在路檢測(cè),或根據(jù)在電路中的功能搭建相應(yīng)的電路,然后進(jìn)行檢測(cè)。
場(chǎng)效應(yīng)晶體管的放大能力是最基本的性能之一,一般可使用指針萬(wàn)用表粗略測(cè)量場(chǎng)效應(yīng)晶體管是否具有放大能力,為結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管放大能力的檢測(cè)方法。
不論是自動(dòng)量程方式還是人置量程方式,由于電阻沒有D(損耗系數(shù))和Q(品質(zhì)因數(shù)),所以在電阻測(cè)量方式輔助LCD沒有顯示。
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