在6.78兆赫，在氮化鎵的高速，低損耗的開(kāi)關(guān)驅(qū)動(dòng)器的能力，以高效的解決方案有線的水平的高度共振無(wú)線功率傳輸標(biāo)準(zhǔn)。結(jié)合IDT的EPC和精密解決方案的專業(yè)氮化鎵將提供一個(gè)高效，具有成本競(jìng)爭(zhēng)力的解決方案，將推動(dòng)廣泛采用無(wú)線供電的。

例如，將row0~3配置為輸出模式，col0~3配置為輸入模式;現(xiàn)將row0輸出低電平，row1~3輸出高電平，讀取col0~3;

如果此時(shí)第0行0列的按鍵有按下，則col0檢測(cè)到輸入為低電平，其他列為高電平。這種方式占用I/O線較少，在按鍵較多的應(yīng)用中采用較多。

高空間分辨率的芯片布線質(zhì)量分析技術(shù),盡管半導(dǎo)體電路的持續(xù)收縮促進(jìn)了幾代更小，更快消費(fèi)電子，摩爾定律是創(chuàng)下了技術(shù)墻上的危險(xiǎn)。

規(guī)避小型化的物理極限,芯片制造商正在開(kāi)發(fā)與電路在單個(gè)封裝中的多個(gè)層的3D半導(dǎo)體。

然而，接線故障分析是3D芯片發(fā)展的一個(gè)重大挑戰(zhàn)。與堆疊在彼此頂部的多個(gè)基板，因此很難確定，其中布線故障時(shí)有發(fā)生與X射線檢查和其它現(xiàn)有技術(shù)。

一般地，示波器TDR和/或TDT用于查明這些故障,但在這些微小的幾何形狀,非常高的空間分辨率是必須的。

飛秒光脈沖激光作為信號(hào)源，它達(dá)到小于5微米，并為300mm，最大測(cè)量范圍內(nèi)具有優(yōu)異的空間分辨率。隨著使用太赫茲光譜和成像系統(tǒng)的成功記錄，飛秒光脈沖激光擁有極高的分辨率。

此外，新技術(shù)提供了一個(gè)映射函數(shù)，可在設(shè)備的CAD數(shù)據(jù)查明的布線故障的位置，使得它的最佳工具，用于查找在極其復(fù)雜的，高密度電路的缺陷。

鍵盤(pán)可分為可分成獨(dú)立式按鍵鍵盤(pán)和矩陣式按鍵鍵盤(pán);按讀入鍵值的方式，可分為直讀方式和掃描方式;按編碼方式，可分成非編碼方式和硬件編碼方式;按微處理器響應(yīng)方式可分為中斷方式和查詢方式。