大多數(shù)電子元器件的失效率FF200R12KT4隨時間的變化曲線彤似浴盆，故稱為“浴盆曲線”�！霸∨枨�線”表明電子元器件的失效率隨時間的變化大致可以分為早期失效期、偶然失效期和磨損失效期這三個階段。

    (1)早期失效期
    早期失效期的電子元器件在投入使用的初期，其失效率較高，且具有隨時間迅速下降的特征。這一階段電子元器件的失效主要是由于設(shè)計與制造中的缺陷（如設(shè)計不當(dāng)、材料缺陷、加工缺陷、安裝調(diào)試不當(dāng)?shù)龋┮�起的，并在產(chǎn)品投入使用后的早期內(nèi)易較快暴露出來。早期失效可通過加強(qiáng)質(zhì)量管理及采用環(huán)境應(yīng)力篩選等辦法來減少。
    (2)偶然失效期
    在電子元器件投入使用一段時間后，產(chǎn)品的失效率可降到一個較低的水平，且基本處于平穩(wěn)狀態(tài)，此時可以近似認(rèn)為失效率為常數(shù)，這一階段就是偶然失效期。在這個時間產(chǎn)品的失效主要是由偶然因素引起的，偶然失效階段是產(chǎn)品的主要使用期間。
    (3)耗損失效期
    在電子元器件投入使用相當(dāng)長的時間后，產(chǎn)品進(jìn)入耗損失效期，其特點(diǎn)是產(chǎn)品的失效率迅速上升，很快出現(xiàn)產(chǎn)品失效大量增加的現(xiàn)象。這一階段產(chǎn)品的失效主要是由老化、疲勞、磨損、腐蝕等耗損性因素引起的。通過對產(chǎn)品試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析，可以確定電子元器件耗損階段的起始點(diǎn)。在耗損起始點(diǎn)到來之前應(yīng)對電子設(shè)備中耗損的電子元器件、零件、部件予以維修、更換，就可以降低設(shè)備的故障率，延長設(shè)備的使用壽命。從圖1.4還可看出，電子元器件的使用壽命期飫短與產(chǎn)品規(guī)定條件和規(guī)定的或可接受的失效率有關(guān)。如規(guī)定的允許失效率高，產(chǎn)品的使用壽命就長，反之，使用壽命就短。