半導(dǎo)體分立器件可靠性設(shè)計基本要求
發(fā)布時間:2012/4/26 19:40:25 訪問次數(shù):641
半導(dǎo)體分立器件是電子信息裝備及IKW75N60T固態(tài)電子系統(tǒng)的心臟，器件的可靠性在很大程度上決定了裝備及系統(tǒng)的可靠性。為了提高半導(dǎo)體分立器件的可靠性水平，必須在器件功能設(shè)計的同時，針對產(chǎn)品在規(guī)定條件下和規(guī)定期間內(nèi)可能出現(xiàn)的失效模式，采取相應(yīng)的設(shè)計技術(shù)，以消除或控制其失效模式，使產(chǎn)品在全壽命周期內(nèi)滿足規(guī)定的可靠性要求。
在進(jìn)行半導(dǎo)體分立器件可靠性設(shè)計時，除了按本書第1章提出的可靠性設(shè)計基本要求（包括：基本原則、設(shè)計依據(jù)、人員素質(zhì)要求、信息收集與應(yīng)用、失效物理分析工作等）、可靠性設(shè)計程序進(jìn)行外，還要根據(jù)半導(dǎo)體分立器件的特點(diǎn)來提出和考慮其相應(yīng)的要求。因此，建議在閱讀本章之前，請先閱讀第1章的通用要求、共性技術(shù)，特別是可靠性以及可靠性設(shè)計的基本概念、影響電子元器件可靠性的因素分析等內(nèi)容。
在進(jìn)行半導(dǎo)體分立器件可靠性設(shè)計時，除了按本書第1章提出的可靠性設(shè)計基本要求（包括：基本原則、設(shè)計依據(jù)、人員素質(zhì)要求、信息收集與應(yīng)用、失效物理分析工作等）、可靠性設(shè)計程序進(jìn)行外，還要根據(jù)半導(dǎo)體分立器件的特點(diǎn)來提出和考慮其相應(yīng)的要求。因此，建議在閱讀本章之前，請先閱讀第1章的通用要求、共性技術(shù)，特別是可靠性以及可靠性設(shè)計的基本概念、影響電子元器件可靠性的因素分析等內(nèi)容。
半導(dǎo)體分立器件是電子信息裝備及IKW75N60T固態(tài)電子系統(tǒng)的心臟，器件的可靠性在很大程度上決定了裝備及系統(tǒng)的可靠性。為了提高半導(dǎo)體分立器件的可靠性水平，必須在器件功能設(shè)計的同時，針對產(chǎn)品在規(guī)定條件下和規(guī)定期間內(nèi)可能出現(xiàn)的失效模式，采取相應(yīng)的設(shè)計技術(shù)，以消除或控制其失效模式，使產(chǎn)品在全壽命周期內(nèi)滿足規(guī)定的可靠性要求。
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