任務(wù)實(shí)施CLC110AJP
   一、測試任務(wù)
   衰減式音調(diào)控制電路的仿真測試。
   二、任務(wù)要求
   按測試步驟完成所有測試內(nèi)容，并撰寫測試報(bào)告。
   三、測試器材
   計(jì)算機(jī)1臺(tái)，Multisim 2001軟件1套。
   四、任務(wù)實(shí)施步驟
   (1)按圖4-22畫好仿真電路。

         
   (2)音調(diào)控制電路輸入端輸入10 mV、1 kHz的低頻信號，輸出端接波特圖儀(Bode Plotter-XBP)，觀察幅頻特性，并設(shè)置Horizontal、Vertical的刻度取對數(shù)( Log)，頻率的初始值(I)為10 Hz，頻率的最終值(F)為100 kHz。
   (3)將RP1、Rp2電位器滑動(dòng)端調(diào)至中間位置，用波特圖儀測出輸入信號的頻率從10 Hz變化到100 kHz的過程中該電路的幅頻特性曲線，并通過移動(dòng)測試游標(biāo)測出在頻段的低端、中端及高端幾個(gè)信號頻率的條件下該控制電路的增益，把測得的數(shù)據(jù)及幅頻特性曲線記錄于表4-5中。
    (4)將RP1、Rp2電位器均調(diào)至最大值的位置，用波特圖儀測出輸入信號的頻率從10 Hz變化到100 kHz的過程中該電路的幅頻特性曲線，并通過移動(dòng)測試游標(biāo)測出在頻段的低端、中端及高端幾個(gè)信號頻率的條件下該控制電路的增益，把測得的數(shù)據(jù)及幅頻特性曲線記錄于表4-5中。
    (5)將RP1電位器調(diào)至最大值的位置，Rp2電位器調(diào)至最小值的位置，用波特圖儀測出輸入信號的頻率從10 Hz變化到100 kHz的過程中該電路的幅頻特性曲線，并通過移動(dòng)測試游標(biāo)測出在頻段的低端、中端及高端幾個(gè)信號頻率酌條件下該控制電路的增益，把測得的數(shù)據(jù)及幅頻特性曲線記錄于表4-5中。
    (6)將RP1、Rp2電位器均調(diào)至最小值的位置，用波特圖儀測出輸入信號的頻率從10 Hz變化到100 kHz的過程中該電路的幅頻特性曲線，并通過移動(dòng)測試游標(biāo)測出在頻段的低端、中端及高端幾個(gè)信號頻率的條件下該控制電路的增益，把測得的數(shù)據(jù)及幅頻特性曲線記錄于表4-5中。
    (7)將RP1電位器調(diào)至最小值的位置，Rp2電位器調(diào)至最大值的位置，用波特圖儀測出輸入信號的頻率從10 Hz變化到100 kHz的過程中該電路的幅頻特性曲線，并通過移動(dòng)測試游標(biāo)測出在頻段的低端、中端及高端幾個(gè)信號頻率的條件下該控制電路的增益，把測得的數(shù)據(jù)及幅頻特性曲線記錄于表4-5中。