1．電感測(cè)量法
    電感測(cè)量法的原理是以一個(gè)或MM74HC123N幾個(gè)大的網(wǎng)絡(luò)（一般為地網(wǎng)）作為天線，對(duì)其施加信號(hào)，其他的網(wǎng)絡(luò)會(huì)感應(yīng)到一定的電感。測(cè)試機(jī)對(duì)氰個(gè)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行電感測(cè)量，比較各網(wǎng)絡(luò)電感值，若網(wǎng)絡(luò)電感值相同，則有可能短路，然后進(jìn)行短路測(cè)試。這種測(cè)試方法只適用于有接地層的PCB的測(cè)試，若對(duì)雙面板（無接地網(wǎng)絡(luò)）進(jìn)行測(cè)試可靠性不高；在有多個(gè)大規(guī)模網(wǎng)絡(luò)時(shí)，由于有一個(gè)以上的探針用于施加信號(hào)，而提供測(cè)試的探針數(shù)量減少，測(cè)試效率低，但測(cè)試可靠性較高，返測(cè)次數(shù)少。
    2．充／放電時(shí)間法
    每個(gè)網(wǎng)絡(luò)的充／放電時(shí)間（也稱網(wǎng)絡(luò)值）是不同的。如果網(wǎng)絡(luò)值相等，則說明網(wǎng)絡(luò)之間有可能短路，僅需在網(wǎng)絡(luò)值相等的網(wǎng)絡(luò)測(cè)量短路即可。充／放電時(shí)間法包括兩個(gè)主要的測(cè)試步驟，第一步是測(cè)試首件板，采用全開路測(cè)試一全短路測(cè)試一網(wǎng)絡(luò)值學(xué)習(xí)流程；第二步是測(cè)試第二塊及以后的板采用全開路測(cè)試一網(wǎng)絡(luò)值測(cè)試流程。在懷疑有短路的地方再用電阻法測(cè)試。這種測(cè)試方法的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確，可靠性高；缺點(diǎn)是首件板測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，返測(cè)次數(shù)多，測(cè)試效率不高。
    3．電容測(cè)量法
    電容測(cè)量法類似于充／放電時(shí)間法。若設(shè)置一參考平面，導(dǎo)電圖形到它的距離為三，導(dǎo)電圖形面積為彳，根據(jù)導(dǎo)電圖形與電容的定律關(guān)系，則C=eA//。如果出現(xiàn)開路，導(dǎo)電圖形面積減少，電容也相應(yīng)減少，則說明有開路；如果有兩部分導(dǎo)電圖形連在一起，電容相應(yīng)增加，說明有短踣。在開路測(cè)試中，同一網(wǎng)絡(luò)的各端點(diǎn)電容值應(yīng)當(dāng)相等，若不相等則有開路存在，此時(shí)記錄下每個(gè)網(wǎng)絡(luò)的電容值，作為短路測(cè)試的比較值。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試效率高，不足之處是完全依賴電容，而電容受影響因素較多，測(cè)試可靠性低于電阻法，特別是關(guān)聯(lián)的電容和二級(jí)電容造成的測(cè)量誤差，對(duì)端點(diǎn)較少的網(wǎng)絡(luò)（如單點(diǎn)網(wǎng)絡(luò)）的進(jìn)行測(cè)試，可靠性較差。
    4．相位差方法
    相位差方法是將一個(gè)弦波的信號(hào)加入接地層或?qū)щ妼�，由線路層來取得相位落后的角度，從而取得電容值或電感值。測(cè)試步驟是首件板先測(cè)開路，然后測(cè)其他網(wǎng)絡(luò)的相位差值，最后測(cè)短路；第二塊及以后的板先測(cè)開路，再測(cè)網(wǎng)絡(luò)相位差值，對(duì)有可能存在短路的網(wǎng)絡(luò)再用電阻法測(cè)試驗(yàn)證。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試效率較高，可靠性高；不足之處是只適合測(cè)4層以上的板，若測(cè)雙面板只能采用電阻法。
    5．自適應(yīng)測(cè)試法
    自適應(yīng)測(cè)試法是每個(gè)測(cè)試過程都是一次測(cè)試完成后，根據(jù)板子具體情況和測(cè)試規(guī)范，設(shè)備自己選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試過程。如果一個(gè)網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)絡(luò)值（充電時(shí)間或電容等）小于設(shè)備測(cè)試誤差，設(shè)備會(huì)自動(dòng)采用電阻測(cè)試和電場(chǎng)測(cè)試。這種測(cè)試方法速度最快，測(cè)試效果最好。