有源天線
發(fā)布時間:2014/4/27 20:24:36 訪問次數(shù):1536
有源天線的優(yōu)點是尺寸小、寬帶、靈敏度高(天線系數(shù)。┖推教沟念l率響應(yīng)(控制放大器增益,以彌補天線響應(yīng)的衰落)。當(dāng)然,FDD6670AL有源天線也有一些缺點,例如放大器的穩(wěn)定性、非線性 失真和動態(tài)范圍(強信號過載)。前兩個問題可以通過選擇合適的有源器件和改進放大器的設(shè)計解決,解決第3個問題可以利用頻譜分析儀在放圓盤大器的整個帶寬上監(jiān)測輸出電平,以確保在整個頻率范圍內(nèi)都在飽和電平之下。
沒有一個主要的天線制造商生產(chǎn)滿足上述要求的天線,但是市場上有一些來自比較小的公司的天線接近滿足上述要求。據(jù)我所知,還沒有可用的。
從1997年以來我在Im法預(yù)測量中使用得很成功的一種有源天線是由亞利桑那州圖森市的ETA 圓工程公司制造的。但是這個天線已經(jīng)不再可用了。 (參考面)這是一個稱為100型弓頂天線的有源天線(如圖18-24所示)。這個天線基本上是一個蝴蝶結(jié)天線的一半,所以是一個有電容性頂帽的單極天線。這種天線的技術(shù)規(guī)格如下:天線的最大尺寸是7. 5in,頻率范圍30~700MHz,在上述頻率范圍內(nèi)天線系數(shù)的變化范圍+6~-3.5dB。除了頻率響應(yīng)不到1GHz以外,這個天線滿足上述Im法預(yù)測量天線所有的理想條件(小尺寸、高靈敏度和平坦的頻率響應(yīng))。無論什么時候我用這個天線做Im法輻射發(fā)射預(yù)測量,它工作得都很好。
注意:作Im法EMC測量時,不需要像作3m法或lOm法測量時那樣改變天線的高度。
改變天線的高度是為了保證地面的反射波和來自被測設(shè)備的直射波同相位而相加。在Im法測量的情況下,反射點一般都在天線所在的區(qū)域以外,因此天線檢測不到反射波。但是,必須在天線水平極化和垂直極化兩種情況下測量,測量時旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺、移動電纜尋找最大發(fā)射。
注意到FCC(用雙錐天線和對數(shù)周期天線)使用Im法室內(nèi)輻射發(fā)射測量裝置對隨意選擇的產(chǎn)品做EMC符合性測量也是有趣的。如果Im法測量數(shù)據(jù)表明產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn),產(chǎn)品就被認可,不需要再做更多的測量。但是,如果Im法測量數(shù)據(jù)表明產(chǎn)品不符合標(biāo)準(zhǔn),就要在FCC的3m法開闊測試場地上重新測量似確認不符合標(biāo)準(zhǔn)。
有源天線的優(yōu)點是尺寸小、寬帶、靈敏度高(天線系數(shù)。┖推教沟念l率響應(yīng)(控制放大器增益,以彌補天線響應(yīng)的衰落)。當(dāng)然,FDD6670AL有源天線也有一些缺點,例如放大器的穩(wěn)定性、非線性 失真和動態(tài)范圍(強信號過載)。前兩個問題可以通過選擇合適的有源器件和改進放大器的設(shè)計解決,解決第3個問題可以利用頻譜分析儀在放圓盤大器的整個帶寬上監(jiān)測輸出電平,以確保在整個頻率范圍內(nèi)都在飽和電平之下。
沒有一個主要的天線制造商生產(chǎn)滿足上述要求的天線,但是市場上有一些來自比較小的公司的天線接近滿足上述要求。據(jù)我所知,還沒有可用的。
從1997年以來我在Im法預(yù)測量中使用得很成功的一種有源天線是由亞利桑那州圖森市的ETA 圓工程公司制造的。但是這個天線已經(jīng)不再可用了。 (參考面)這是一個稱為100型弓頂天線的有源天線(如圖18-24所示)。這個天線基本上是一個蝴蝶結(jié)天線的一半,所以是一個有電容性頂帽的單極天線。這種天線的技術(shù)規(guī)格如下:天線的最大尺寸是7. 5in,頻率范圍30~700MHz,在上述頻率范圍內(nèi)天線系數(shù)的變化范圍+6~-3.5dB。除了頻率響應(yīng)不到1GHz以外,這個天線滿足上述Im法預(yù)測量天線所有的理想條件(小尺寸、高靈敏度和平坦的頻率響應(yīng))。無論什么時候我用這個天線做Im法輻射發(fā)射預(yù)測量,它工作得都很好。
注意:作Im法EMC測量時,不需要像作3m法或lOm法測量時那樣改變天線的高度。
改變天線的高度是為了保證地面的反射波和來自被測設(shè)備的直射波同相位而相加。在Im法測量的情況下,反射點一般都在天線所在的區(qū)域以外,因此天線檢測不到反射波。但是,必須在天線水平極化和垂直極化兩種情況下測量,測量時旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺、移動電纜尋找最大發(fā)射。
注意到FCC(用雙錐天線和對數(shù)周期天線)使用Im法室內(nèi)輻射發(fā)射測量裝置對隨意選擇的產(chǎn)品做EMC符合性測量也是有趣的。如果Im法測量數(shù)據(jù)表明產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn),產(chǎn)品就被認可,不需要再做更多的測量。但是,如果Im法測量數(shù)據(jù)表明產(chǎn)品不符合標(biāo)準(zhǔn),就要在FCC的3m法開闊測試場地上重新測量似確認不符合標(biāo)準(zhǔn)。
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