可靠性篩選試驗(yàn)的分類
發(fā)布時間:2015/6/19 22:14:08 訪問次數(shù):784
非破壞性篩選試驗(yàn)必須100%進(jìn)行篩選;如果試驗(yàn)室是破壞性的,或者會產(chǎn)生蛻化現(xiàn)象, DLT1111則應(yīng)根據(jù)批量大小進(jìn)行抽樣試驗(yàn)。最理想的方法是在不另加外應(yīng)力的情況下,即在普通狀態(tài)或工作應(yīng)力狀態(tài)下,進(jìn)行非破壞性檢驗(yàn),如目檢、X射線檢驗(yàn)及電參數(shù)測量等。采用外加應(yīng)力進(jìn)行篩選時,應(yīng)根據(jù)要求和元器件本身的失效機(jī)理采用不同的方法,使?jié)撛谌?/span>陷易于暴露。
對于新型的元器件和可靠性極高的元器件,篩選試驗(yàn)具有重要意義。特別是在空間技術(shù)和軍事上,往往為獲得高可靠元器件在篩選上花費(fèi)很多經(jīng)費(fèi)和時間。
理想的篩選不錯分一個產(chǎn)品,即不把可靠的產(chǎn)品當(dāng)作早期失效的產(chǎn)品篩選掉,也不把潛在的早期失效產(chǎn)品錯分為可靠的產(chǎn)品。它們應(yīng)滿足:剔除次品數(shù)等于實(shí)際次品數(shù);好品剔除數(shù)(或損壞數(shù))等于零。
事實(shí)上,這種理想的篩選是不存在的。但是,希望選用的篩選方法盡可能接近理想狀態(tài)。
根據(jù)篩選的性質(zhì)和所加的應(yīng)力或所使用的儀器設(shè)備的不同,可靠性篩選試驗(yàn)大致可分為四類:檢查篩選、密封性篩選、環(huán)境應(yīng)力篩選和壽命篩選,如表3.8所示。
表3.8 可靠性篩選試驗(yàn)的分類
非破壞性篩選試驗(yàn)必須100%進(jìn)行篩選;如果試驗(yàn)室是破壞性的,或者會產(chǎn)生蛻化現(xiàn)象, DLT1111則應(yīng)根據(jù)批量大小進(jìn)行抽樣試驗(yàn)。最理想的方法是在不另加外應(yīng)力的情況下,即在普通狀態(tài)或工作應(yīng)力狀態(tài)下,進(jìn)行非破壞性檢驗(yàn),如目檢、X射線檢驗(yàn)及電參數(shù)測量等。采用外加應(yīng)力進(jìn)行篩選時,應(yīng)根據(jù)要求和元器件本身的失效機(jī)理采用不同的方法,使?jié)撛谌?/span>陷易于暴露。
對于新型的元器件和可靠性極高的元器件,篩選試驗(yàn)具有重要意義。特別是在空間技術(shù)和軍事上,往往為獲得高可靠元器件在篩選上花費(fèi)很多經(jīng)費(fèi)和時間。
理想的篩選不錯分一個產(chǎn)品,即不把可靠的產(chǎn)品當(dāng)作早期失效的產(chǎn)品篩選掉,也不把潛在的早期失效產(chǎn)品錯分為可靠的產(chǎn)品。它們應(yīng)滿足:剔除次品數(shù)等于實(shí)際次品數(shù);好品剔除數(shù)(或損壞數(shù))等于零。
事實(shí)上,這種理想的篩選是不存在的。但是,希望選用的篩選方法盡可能接近理想狀態(tài)。
根據(jù)篩選的性質(zhì)和所加的應(yīng)力或所使用的儀器設(shè)備的不同,可靠性篩選試驗(yàn)大致可分為四類:檢查篩選、密封性篩選、環(huán)境應(yīng)力篩選和壽命篩選,如表3.8所示。
表3.8 可靠性篩選試驗(yàn)的分類
熱門點(diǎn)擊
- 柯勒照明
- 紅外吸收峰的強(qiáng)度
- 隔圈設(shè)計
- 反射棱鏡的計算
- 分辨率是儀器設(shè)備的一個重要技術(shù)指標(biāo)
- 抽樣檢驗(yàn)按抽樣方式又分為一次抽樣
- 莫爾條紋與光柵柵距誤羞的關(guān)系
- 作用線與瞬時臂法
- 單元紅外探測器的結(jié)構(gòu)及原理圖
- 熱載流子效應(yīng)對器件性能的影響
推薦技術(shù)資料
- 聲道前級設(shè)計特點(diǎn)
- 與通常的Hi-Fi前級不同,EP9307-CRZ這臺分... [詳細(xì)]
- 車載顯示技術(shù)AR
- 2 納米工藝 A18 Pro 芯片參數(shù)技術(shù)應(yīng)
- 新一代 HBM3/HBM3e
- NAND FLASH控制器芯片
- SoC芯片架構(gòu)設(shè)計
- 嵌入式存儲芯片PPI Nand
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- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
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- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
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