可靠性篩選的種類
發(fā)布時(shí)間:2015/6/19 22:12:30 訪問次數(shù):826
可靠性篩選是提高產(chǎn)品可靠性的一項(xiàng)有效措施,所謂可靠性篩選試驗(yàn)( ReliabilityS。,eening T。。t)是指為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效產(chǎn)品而進(jìn)行的試驗(yàn),DL-7147-201B其目的顯然有兩個(gè)方面:其一,從批產(chǎn)品中挑選出高可靠性的產(chǎn)品,淘汰掉那些低劣的產(chǎn)品,將批產(chǎn)品按可靠性大小分類;其二,剔除那些具有潛在缺陷的早期失效產(chǎn)品,因此,篩選可分兩大類:普通篩選——主要剔除早期失效的產(chǎn)品;精密篩選——在普通篩選的基礎(chǔ)上進(jìn)行的二次篩選,剔除參數(shù)漂移大的產(chǎn)品,以便得到高庋可靠的產(chǎn)品?煽啃院Y選所剔除的具有潛在缺陷的早期失效產(chǎn)品一般都是工藝缺陷和工藝過程中的差錯(cuò)造成的,所以可靠性篩選有時(shí)也叫工藝篩選(Processing Technology Screening)。但是,必須特別指出,在生產(chǎn)過程中一般電子元器件的特性值分布在一定范圍內(nèi),失效機(jī)理是確定的,因而可靠性篩選不能改變其失效機(jī)理。因此,可靠性篩選不能提高單個(gè)元件的可靠性(固有可靠性),只能將早期失效產(chǎn)品剔除或?qū)a(chǎn)品可靠性分成不同水平等級(jí),從而提高批產(chǎn)品總的可靠性水平。所以高可靠性電子元器件產(chǎn)品的獲得主要依靠對(duì)電子元器件的可靠性設(shè)計(jì)和嚴(yán)格的工藝控制,而不依靠可靠性篩選。其實(shí),在產(chǎn)品制造過程中,各個(gè)工藝質(zhì)量的檢驗(yàn)、成品和半成品的電參數(shù)測(cè)試等也可看做篩選的過程。
可靠性篩選的方法很多,可以通過簡(jiǎn)單觀測(cè)(例如,顯微鏡觀察、電參數(shù)測(cè)量)來檢查潛在的缺陷;也可以通過施加單個(gè)和多個(gè)環(huán)境壓力,使缺陷加以暴露,或通過施加其他應(yīng)力來觀測(cè)或發(fā)現(xiàn)缺陷,或通過早期壽命試驗(yàn)對(duì)參數(shù)的特征值測(cè)量來決定良品和不良品。有的方法通過對(duì)樣品施加應(yīng)力,觀測(cè)元器件參數(shù)的變化來判斷缺陷(通常通過觀測(cè)對(duì)缺陷敏感的參數(shù)來判別),或間接地觀察元器件的應(yīng)為集中情況,如機(jī)械變形、電應(yīng)力和熱應(yīng)力的集中等進(jìn)行判斷,應(yīng)力集中者多數(shù)為缺陷所在處,是不可靠或早期失效產(chǎn)品。
可靠性篩選是提高產(chǎn)品可靠性的一項(xiàng)有效措施,所謂可靠性篩選試驗(yàn)( ReliabilityS。,eening T。。t)是指為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效產(chǎn)品而進(jìn)行的試驗(yàn),DL-7147-201B其目的顯然有兩個(gè)方面:其一,從批產(chǎn)品中挑選出高可靠性的產(chǎn)品,淘汰掉那些低劣的產(chǎn)品,將批產(chǎn)品按可靠性大小分類;其二,剔除那些具有潛在缺陷的早期失效產(chǎn)品,因此,篩選可分兩大類:普通篩選——主要剔除早期失效的產(chǎn)品;精密篩選——在普通篩選的基礎(chǔ)上進(jìn)行的二次篩選,剔除參數(shù)漂移大的產(chǎn)品,以便得到高庋可靠的產(chǎn)品?煽啃院Y選所剔除的具有潛在缺陷的早期失效產(chǎn)品一般都是工藝缺陷和工藝過程中的差錯(cuò)造成的,所以可靠性篩選有時(shí)也叫工藝篩選(Processing Technology Screening)。但是,必須特別指出,在生產(chǎn)過程中一般電子元器件的特性值分布在一定范圍內(nèi),失效機(jī)理是確定的,因而可靠性篩選不能改變其失效機(jī)理。因此,可靠性篩選不能提高單個(gè)元件的可靠性(固有可靠性),只能將早期失效產(chǎn)品剔除或?qū)a(chǎn)品可靠性分成不同水平等級(jí),從而提高批產(chǎn)品總的可靠性水平。所以高可靠性電子元器件產(chǎn)品的獲得主要依靠對(duì)電子元器件的可靠性設(shè)計(jì)和嚴(yán)格的工藝控制,而不依靠可靠性篩選。其實(shí),在產(chǎn)品制造過程中,各個(gè)工藝質(zhì)量的檢驗(yàn)、成品和半成品的電參數(shù)測(cè)試等也可看做篩選的過程。
可靠性篩選的方法很多,可以通過簡(jiǎn)單觀測(cè)(例如,顯微鏡觀察、電參數(shù)測(cè)量)來檢查潛在的缺陷;也可以通過施加單個(gè)和多個(gè)環(huán)境壓力,使缺陷加以暴露,或通過施加其他應(yīng)力來觀測(cè)或發(fā)現(xiàn)缺陷,或通過早期壽命試驗(yàn)對(duì)參數(shù)的特征值測(cè)量來決定良品和不良品。有的方法通過對(duì)樣品施加應(yīng)力,觀測(cè)元器件參數(shù)的變化來判斷缺陷(通常通過觀測(cè)對(duì)缺陷敏感的參數(shù)來判別),或間接地觀察元器件的應(yīng)為集中情況,如機(jī)械變形、電應(yīng)力和熱應(yīng)力的集中等進(jìn)行判斷,應(yīng)力集中者多數(shù)為缺陷所在處,是不可靠或早期失效產(chǎn)品。
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