EUT外殼是否屏蔽不是通過CS測試所必需的條件,但EUT屏蔽可以提高其Cs抗擾性, JAN2N1711并降低處理問題的難度。另外,需進(jìn)行CS測試的產(chǎn)品一般也必須同時進(jìn)行輻射抗擾度(Rs)測試,而EUT的屏蔽可以極大地提高其RS抗擾性。為同時滿足CS和RS要求,采用屏蔽是最佳選擇。

   在對EUT電纜進(jìn)行CS測試時,RFI注人點(diǎn)與EUT水平距離為0,1~0.3m。若該電纜在進(jìn)入EUT接口處有合適濾波器,干擾難以直接通過該電纜進(jìn)入EUT。若EUT為非屏蔽外殼,帶RFI的電纜會通過輻射或感容耦合將干擾傳入EUT內(nèi)部。在測試頻率高端,這種現(xiàn)象更明顯:若出現(xiàn)此類問題,可采取在非金屬外殼內(nèi)部增加屏蔽層,或?qū)UT內(nèi)部敏感電路局部屏蔽的方式來解決。同時,也不要忽略檢查所使用濾波器的高頻特性是否良好。

   對屏蔽或同軸線,RFI信號僅注入屏蔽層。若EUT為屏蔽外殼,在該電纜進(jìn)入EUT處,屏蔽層與外殼連接,RFI會被引入外殼。若EUT為非屏蔽外殼,電纜的屏蔽層會在內(nèi)部電路處連接,RFI很容易被引用內(nèi)部電路。此時,可通過增加外殼屏蔽層來解決。當(dāng)然,通過解決電纜屏蔽層的接地問題,不讓屏蔽層上的干擾進(jìn)人內(nèi)部電路也是較好的選擇。

  由于CS測試的RFI頻率一般都不高,因此,對外殼的屏蔽效能要求不是特別嚴(yán)格,只要外殼各結(jié)構(gòu)件電氣連接良好,且外殼上沒有大的孔、洞、縫隙即可。EUT若使用屏蔽外殼,外殼是否接地也很關(guān)鍵。若外殼不接地,電纜屏蔽層上RFI高頻部分會通過屏蔽外殼與大地之間的分布電容耦合到大地,但RFI的低頻部分和少部分高頻分量依然存在,并對內(nèi)部電路產(chǎn)生二次輻射和耦合,形成干擾。若外殼接地,這些干擾分量會通過接地線耦合到大地,從而避免了二次干擾的發(fā)生。若屏蔽外殼不能良好接地,則應(yīng)盡量避免將RFI耦合到外殼上去。當(dāng)然,若EUT及其所有端口均沒有與大地構(gòu)成回路,也可以讓EUT完全浮地,以達(dá)到抑制干擾的目的。