掃描測試是在兩個階段中完成的,第一個OB2269CCPA階段是測試掃描暫存器,通過設(shè)置SE=1使電路設(shè)置成掃描 模式,這使所有的觸發(fā)器在SI(sca n―in)與Q(scan out)之問串成了一組移位暫存器.或稱為掃描璉:一個(觸發(fā)器曾、數(shù)-1)的序列信號加人到暫存器SI序列中,經(jīng)由時鐘信號C控制J宇列信號破移位到可以l見察的ScanOut輸;冉將Scan_Out輸出勹輸入序列做比較:如此一來.測試了移位暫存器是否可以正確操作:測試的第二階段是對組合邏輯電路的固定故障做測試,一個掃描測試輸人矢童包含兩個部分,即組合電路的原始輸入部分和移位暫存器的狀態(tài)變量部分。每一個掃描測試輸出矢董也同樣包含兩個部分,即組合電路的原始輸出部分和移位暫存器的輸出部分.掃描測試在每一個系統(tǒng)時鐘周期輸人一個掃描測試矢量,也就是使用ATPC)Hi成的測試矢蚩・作為組合電路的原始輸人矢量以及作為移位暫存器設(shè)定初始值的矢量。當(dāng)掃描測試矢量輸人之后,可以讀出原始輸出矢量和移位暫存器的輸出矢量,與期望值作比較。如果不符合,所有的影響原始輸出的故障此時都可以通過判斷觸發(fā)器狀態(tài)變量而被檢測出來。