既然高阻情況下測試,設備很容易就通過測試,那么在電源輸入的入口處串聯(lián)一個二極管,原理如圖5.58所示,可以實現(xiàn)低阻狀態(tài)到高阻狀態(tài)的改變。根據(jù)測試結(jié)果,串聯(lián)二極管后,再增加儲能電容幻uF,能通過DC電源端口的所有測試要求。 LM4040AEX3-2.1-T

   圖5.58 電源入口處串聯(lián)二極管

   【思考與啟示】

   (1)全面理解電壓中斷測試的意思,中斷測試分別模擬實際電壓中斷的兩種情況,即高阻狀態(tài)和低阻狀態(tài)。高阻狀態(tài)是由電源從一個交換到另一個時產(chǎn)生的;低阻狀態(tài)是由清除一個過載或電源總線上的缺陷產(chǎn)生的,并可以引發(fā)從負載產(chǎn)生的反向電流(負的峰值沖擊電 流)。高阻狀態(tài)時,阻塞高阻抗負載的反向電流;低阻狀態(tài)時,從低阻抗負載吸收負的沖擊電流。

   (2)從儲能的角度講,高阻狀態(tài)下測試比較容易通過,因此在電源入口處串聯(lián)二極管相當于將源的低阻抗變成高阻抗,有利于測試通過。

   (3)在電源入口處串聯(lián)二極管的前提下,產(chǎn)品或產(chǎn)品中局部電路儲能電容的大小可以通過1/2C(σ1-叱)2=凡來計算,其中σl是正常工作電壓,〃2是最低的但能使電路正常工作的電壓;P是儲能電容所供電路的J總功率,莎是跌落時間,C是所需儲能電容的值。