可見,靜電干擾電流的放電路徑主要有兩條:一條通過外殼流向大地(大部分電流);另一條通過內(nèi)部PCB流向大地(小部分)。靜電放電電流屬于高頻信號, KA278RA05CTU集膚效應及金屬外殼的低阻抗特性(測試中檢查了金屬外殼的搭接性能,確認良好,如果搭接不好,也將引起額外的干擾,如案例“靜電放電十擾是如何引起的”中描述的那樣)使得大部分的靜電放電干擾電流會從金屬外殼流人大地。既然大部分的靜電放電干擾電流已經(jīng)通過金屬外殼流人大地,那為什么還會出現(xiàn)ADC的異常工作呢?ADC電路的設計肯定存在較薄弱的環(huán)節(jié)。檢查電路發(fā)現(xiàn),ADC存在模擬地和數(shù)字地,電路設計時為了使數(shù)字電路部分的干擾不影響模擬電路部分,在數(shù)字地和模擬地之問跨接了磁珠進行隔離:ADC原理框圖和ADC的PCB布局示意圖如圖6.41和圖6妲所示.

   由于模擬地與數(shù)字地之問存在磁珠,當高頻的靜電放電干擾電流流過時,會在磁珠兩端產(chǎn)生壓降Δσ,如圖6,紹所示。這個壓降Δσ會對ADC產(chǎn)生什么樣的影響呢?也許會有人認為ADC中數(shù)字電路和模擬電路是兩個相互隔離的電路,而且電平互不參考。實際上,數(shù)字電路與模擬電路之間寄生電容和磁珠的存在已使兩部分電路相互關聯(lián),因此Δσ的產(chǎn)生必然對ADC的正常工作產(chǎn)生影響。在測試中發(fā)現(xiàn),將ADC兩邊的數(shù)字地和模擬地用導線單點互連,可以通過±6kⅤ的靜電放電測試。這是因為單點互連后,Δ〃大大降低。