傳輸線(xiàn)會(huì)對(duì)整個(gè)電路設(shè)計(jì)帶來(lái)以下效應(yīng)。

   (1)反射信號(hào)(Renectcd⒊gllal)。MC56F8011VFAE

   (2)延時(shí)和時(shí)序錯(cuò)誤(Delay&⒎而吧△ror)。

   (3)多次跨越邏輯電平門(mén)限錯(cuò)誤(幾kS誡tch血g)。

   (4)過(guò)沖與下沖(01e‘hoot/Undershoot)。

   (5)串?dāng)_(hduced N0∞or⒍osstak)。

   (6)電磁輻射(EMI Radi舶c,ll)。

   信號(hào)延時(shí)和時(shí)序錯(cuò)誤表現(xiàn)為:接收端信號(hào)在輸人端邏輯電平的高與低門(mén)限之間變化時(shí),保持一段時(shí)間信號(hào)的不跳變。過(guò)多的信號(hào)延時(shí),可能導(dǎo)致時(shí)序錯(cuò)誤和器件 功能的混亂。

   通常在多個(gè)接收端并行工作時(shí)會(huì)出現(xiàn)問(wèn)題。電路設(shè)計(jì)師必須確定最壞情況下的 時(shí)間延時(shí),以確保設(shè)計(jì)的正確性。

   信號(hào)延時(shí)產(chǎn)生的原因:驅(qū)動(dòng)過(guò)載,走線(xiàn)過(guò)長(zhǎng)。

   多次跨越邏輯電平門(mén)限錯(cuò)誤

   信號(hào)在跳變的過(guò)程中可能多次跨越邏輯電平門(mén)限從而導(dǎo)致這一類(lèi)型的錯(cuò)誤。多 次跨越邏輯電平門(mén)限錯(cuò)誤是信號(hào)振蕩的一種特殊形式,即信號(hào)的振蕩發(fā)生在邏輯電平門(mén)限附近,多次跨越邏輯電平門(mén)限會(huì)導(dǎo)致邏輯功能紊亂。

   如果一根高速信號(hào)走線(xiàn)沒(méi)有被正確終結(jié)(終端匹配),那么來(lái)自于驅(qū)動(dòng)端的信號(hào)脈沖在接收端將被反射,從而引發(fā)非預(yù)期效應(yīng),使信號(hào)輪廓失真。當(dāng)失真變形非常顯著時(shí)可導(dǎo)致多種錯(cuò)誤,引起設(shè)計(jì)失敗。同時(shí),失真變形的信號(hào)對(duì)騷擾的敏感性增加了,也會(huì)引起設(shè)計(jì)失敗。如果沒(méi)有考慮上訴情況,EMI將顯著增加,這就不單單會(huì)影響自身設(shè)計(jì)結(jié)果,還會(huì)造成整個(gè)系統(tǒng)的失敗。

   反射信號(hào)產(chǎn)生的主要原因:過(guò)長(zhǎng)的走線(xiàn),未被匹配終結(jié)的傳輸線(xiàn),過(guò)量電容或電感及阻抗失配。