高速數(shù)字網(wǎng)絡(luò)的邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)

   為提高電路板上混合系統(tǒng)中差分互連與交流耦合的測試能力,IEEE計(jì)算機(jī)協(xié)會的測試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)委員會公布了最新的IEEE1149.6-2003。該標(biāo)準(zhǔn)支持魯棒性的板級邊界掃描測試,在信號通路中允許使用差分信號與交流耦合技術(shù)。 EN25T80-75HCP該技術(shù)利用并且兼容現(xiàn)有的1149,1。11⒆.6標(biāo)準(zhǔn)可以像11匆,1標(biāo)準(zhǔn)那樣測試數(shù)字網(wǎng)絡(luò),還能與1149.4標(biāo)準(zhǔn)銜接起來測試模擬網(wǎng)絡(luò),并且它還彌補(bǔ)了11翎.4標(biāo)準(zhǔn)只能串行測試模擬網(wǎng)絡(luò)的不足,提出了一種并行測試高級數(shù)字網(wǎng)絡(luò)的新結(jié)構(gòu),同時1149.6標(biāo)準(zhǔn)還定義了擴(kuò)展BsDL語言來支持新的yo測試結(jié)構(gòu)。

    標(biāo)準(zhǔn)測試接口語言標(biāo)準(zhǔn)

   IC生產(chǎn)商與自動測試設(shè)各制造商的工業(yè)聯(lián)合體為了解決大量數(shù)字測試數(shù)據(jù)的裝入問題,1999年一起開發(fā)了標(biāo)準(zhǔn)ⅡEE1450數(shù)字測試矢量的標(biāo)準(zhǔn)測試接口語言(sTIL)。IEEE1450標(biāo)準(zhǔn)共包括五個子標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體設(shè)計(jì)環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)P1450,1、直流電平的技術(shù)性能標(biāo)準(zhǔn)P1450.2、測試儀的測試對象標(biāo)準(zhǔn)P14503、測試流規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)P1450.4和半導(dǎo)體測試標(biāo)準(zhǔn)

P1450.5。