半導(dǎo)體分立器件綜合測(cè)試系統(tǒng)具有以下發(fā)展趨勢(shì):

   (1)通用性:能夠測(cè)試常用的多種類型分立器件,包括二極管、三極管、功率晶體管、光電器件等。A14100-CQ256B

   (2)自動(dòng)化:在生產(chǎn)線上,用戶只要編寫好測(cè)試軟件及選擇好測(cè)試配件后,便可直接對(duì)被測(cè)對(duì)象進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試,測(cè)試系統(tǒng)結(jié)合測(cè)試分選機(jī)可以根據(jù)測(cè)試結(jié)果對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行分類。

   (3)高速測(cè)量:通常的測(cè)試系統(tǒng)能在ls內(nèi)完成2~4個(gè)半導(dǎo)體分立器件的所有特性參數(shù)測(cè)試(測(cè)試對(duì)象不同測(cè)試時(shí)間不同)。這種效率是傳統(tǒng)人工測(cè)試方法無(wú)法比擬的,提高了生產(chǎn)成品的檢測(cè)效率。

   (4)多線程測(cè)試:結(jié)合了嵌入式技術(shù)、軟件多線程運(yùn)行技術(shù),測(cè)試儀器可以多路高精度測(cè)試通道同時(shí)工作,大幅度提高了測(cè)試效率。

   (5)可操控性:測(cè)試設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)脫機(jī)測(cè)試,整個(gè)測(cè)試過(guò)程由測(cè)試設(shè)備中的嵌入式CPU來(lái)控制,并將測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于測(cè)試設(shè)備中的存儲(chǔ)器。另外也可以選擇整個(gè)測(cè)量過(guò)程由計(jì)算機(jī)終端進(jìn)行控制和記錄,參數(shù)測(cè)試種類完全面對(duì)用戶需求,測(cè)量結(jié)果和統(tǒng)計(jì)結(jié)果均可在顯示器上實(shí)時(shí)顯示,極大地方便了對(duì)整個(gè)生產(chǎn)流程的規(guī)范化管理。

   雖然經(jīng)過(guò)近些年的發(fā)展,國(guó)內(nèi)在半導(dǎo)體分立器件綜合測(cè)試方面有了較大的提高,但和國(guó)外相比還是有一定的差距,未來(lái)應(yīng)研發(fā)高精度、多功能的測(cè)試儀,推動(dòng)我國(guó)半導(dǎo)體分立器件產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。