模擬集成電路的參數(shù)測試方法

   與數(shù)字集成電路不同,模擬集成電路的參數(shù)與具體產(chǎn)品相關(guān)性比較大,不同類別的集成電路可能具有完全不一樣的參數(shù),參數(shù)相對比較繁雜,本節(jié)列舉幾個(gè)參數(shù)討論其測試方法。

   DAC輸出失調(diào)電流 H8YCZ0CI0MAR-3DD-C

   DAC輸出失調(diào)電流測試原理如圖49所示。圖49為一個(gè)器件內(nèi)部集成的DAC,測試時(shí),將DAC配置成最小輸出,測量DAC的輸出電壓,用測量到的電壓值除以DAC輸出腳的接地電阻即為DAC輸出失調(diào)電流。因此類電壓一般比較小,且易受干擾,工程實(shí)際中用ATE直接測試電壓不太可行,應(yīng)想方法排除干擾進(jìn)行準(zhǔn)確測試。

   圖⒋9 DAC輸出失調(diào)電流測試原理圖

    DAC增益誤差

    DAC增益誤差原理如圖⒋10所示,將DAC配置成最小輸出,測量DAC的輸出電壓,用測量到的電壓值除以DAC輸出腳的接地電阻即為DAC輸出失調(diào)流。將DAC配置成滿幅輸出,測量DAC的輸出電壓,用測量到的電壓值除以DAC輸出腳的接地電阻即為DAC滿幅輸出電流。DAC的滿幅輸出電流與DAC輸出失調(diào)電流之差即為DAC輸出的實(shí)際滿刻度范圍,實(shí)際滿刻度與理想滿刻度之差與理想滿刻度的比值即為DAC增益誤差。