測試方法研究要點(diǎn)

   1)DDS器件對外接口特`點(diǎn)與可測性研究

   DDs器件對外信號接口包括時(shí)鐘輸入接口、控制信號輸入接口、SPI協(xié)議接口、DAC與低通濾波器輸出接口、寄存器更新控制接口和低功耗控制模式接口。另外,器件在工作與測試中還有一些外圍電路支持,如電流型DDs器件的電流調(diào)整接口等。 R6507P

   2)DDS器件功能測試方法研究

   DDs器件主要實(shí)現(xiàn)可配置頻點(diǎn)相位的正/余弦波形產(chǎn)生,從結(jié)構(gòu)上看,有鎖相環(huán)(PLL)、輸入輸出(I/o)接口、寄存器、頻率累加器、相位累加器、靜態(tài)存儲器(sRAM)、數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)和比較器等。

   這些模塊有的屬于模擬模塊,如PLL、DAC和比較器;有的屬于數(shù)字模塊,如V0接口、寄存器、頻率累加器、相位累加器和SRAM。I/o接口可讀可寫,可以是2線制也可以是3線制,可以從高位往低位讀寫,也可以從低位往高位讀寫。寄存器有控制寄存器、幅度寄存器、頻率轉(zhuǎn)換字寄存器和相位偏移字寄存器等。

   從功能上看,DDs器件有多種工作模式和多種省電模式。工作模式最簡單的是單頻點(diǎn)模式,還有跳頻模式和各種掃頻模式,如直接轉(zhuǎn)換模式、上斜坡模式、雙向斜變模式、連續(xù)雙向斜變模式和連續(xù)循環(huán)模式,以及相位調(diào)制功能。DDS器件省電模式有軟件控制模式、快速

喚醒模式、全睡眠模式。其中,軟件控制模式可對數(shù)字模塊、比較器、DAC、輸入時(shí)鐘模塊分別進(jìn)行啟動或關(guān)閉控制;快速喚醒模式令數(shù)字模塊保持工作,令DAC、輸入時(shí)鐘模塊保持關(guān)閉,比較器可選擇進(jìn)行控制;全睡眠模式將關(guān)閉以上四部分模塊,將功耗降到最低。為了驗(yàn)證各模塊是否能正常工作,必須對各模塊進(jìn)行操作,同時(shí)檢測各模塊的輸出是否正確。對于不能直接觀察到的模塊部分,可以進(jìn)行配置,使其能與其他模塊共同作用形成可以觀測的輸出,以驗(yàn)證其功能的正確性,如圖⒋28所示為其典型輸出波形。