方面的可靠性設(shè)計(jì)
發(fā)布時(shí)間:2012/4/18 19:29:51 訪問次數(shù):916
功能方面的可靠性設(shè)計(jì)是提高電子SGM4684XG/TR元器件可靠性的有效方法之一，它主要是進(jìn)行降低復(fù)雜度和功耗，實(shí)施版圖尺寸、功能容差和裕度、熱分布和散熱、布線、必要的防護(hù)以及冗余等方面的可靠性設(shè)計(jì)，以消除或控制其可能出現(xiàn)的失效模式，使產(chǎn)品功能在規(guī)定的條件下和規(guī)定期間內(nèi)獲得較為穩(wěn)定的效果。功能方面的可靠性設(shè)計(jì)主要包括裕度設(shè)計(jì)和功能容限設(shè)計(jì)等兩個(gè)方面。
1.裕度設(shè)計(jì)
電子元器件失效模式中有一類是以某一性能參數(shù)超過某一極限值作為判據(jù)的失效，例如擊穿電壓、耗散功率、極限電流等。針對(duì)這一類失效模式，在進(jìn)行可靠性設(shè)計(jì)時(shí)可通過增加功能裕度來提高產(chǎn)品的可靠性。例如，主要失效模式是耗散功
率超過Px時(shí)，產(chǎn)品發(fā)生燒毀失效，在設(shè)計(jì)中使某最大耗散功率為Px+l API，其中I△P I就是功能裕度，顯然這樣的設(shè)計(jì)可以有效地控制燒毀這一失效模式。
2.功能容限設(shè)計(jì)
功能容限設(shè)計(jì)是針對(duì)電子元器件失效是由于某一功能參數(shù)超過了某一范圍引起的失效模式。例如，某一集成放大器要求在10～100MHz的帶寬內(nèi)有50dB的放大量，而其主要的失效模式是在頻帶邊緣放大小于50dB，使器件達(dá)不到預(yù)定功能而失效。針對(duì)這一失效模式可在功能設(shè)計(jì)的同時(shí)，采用擴(kuò)大容限的方法來控制失效模式，即把功能設(shè)計(jì)為從10～100MHz的帶寬擴(kuò)大為5～105MHz的帶寬內(nèi)有50dB的放大量，從而達(dá)到了控制這一失效模式的目的。
1.裕度設(shè)計(jì)
電子元器件失效模式中有一類是以某一性能參數(shù)超過某一極限值作為判據(jù)的失效，例如擊穿電壓、耗散功率、極限電流等。針對(duì)這一類失效模式，在進(jìn)行可靠性設(shè)計(jì)時(shí)可通過增加功能裕度來提高產(chǎn)品的可靠性。例如，主要失效模式是耗散功
率超過Px時(shí)，產(chǎn)品發(fā)生燒毀失效，在設(shè)計(jì)中使某最大耗散功率為Px+l API，其中I△P I就是功能裕度，顯然這樣的設(shè)計(jì)可以有效地控制燒毀這一失效模式。
2.功能容限設(shè)計(jì)
功能容限設(shè)計(jì)是針對(duì)電子元器件失效是由于某一功能參數(shù)超過了某一范圍引起的失效模式。例如，某一集成放大器要求在10～100MHz的帶寬內(nèi)有50dB的放大量，而其主要的失效模式是在頻帶邊緣放大小于50dB，使器件達(dá)不到預(yù)定功能而失效。針對(duì)這一失效模式可在功能設(shè)計(jì)的同時(shí)，采用擴(kuò)大容限的方法來控制失效模式，即把功能設(shè)計(jì)為從10～100MHz的帶寬擴(kuò)大為5～105MHz的帶寬內(nèi)有50dB的放大量，從而達(dá)到了控制這一失效模式的目的。
功能方面的可靠性設(shè)計(jì)是提高電子SGM4684XG/TR元器件可靠性的有效方法之一，它主要是進(jìn)行降低復(fù)雜度和功耗，實(shí)施版圖尺寸、功能容差和裕度、熱分布和散熱、布線、必要的防護(hù)以及冗余等方面的可靠性設(shè)計(jì)，以消除或控制其可能出現(xiàn)的失效模式，使產(chǎn)品功能在規(guī)定的條件下和規(guī)定期間內(nèi)獲得較為穩(wěn)定的效果。功能方面的可靠性設(shè)計(jì)主要包括裕度設(shè)計(jì)和功能容限設(shè)計(jì)等兩個(gè)方面。
1.裕度設(shè)計(jì)
電子元器件失效模式中有一類是以某一性能參數(shù)超過某一極限值作為判據(jù)的失效，例如擊穿電壓、耗散功率、極限電流等。針對(duì)這一類失效模式，在進(jìn)行可靠性設(shè)計(jì)時(shí)可通過增加功能裕度來提高產(chǎn)品的可靠性。例如，主要失效模式是耗散功
率超過時(shí)，產(chǎn)品發(fā)生燒毀失效，在設(shè)計(jì)中使某最大耗散功率為+l API，其中I△P I就是功能裕度，顯然這樣的設(shè)計(jì)可以有效地控制燒毀這一失效模式。
2.功能容限設(shè)計(jì)
功能容限設(shè)計(jì)是針對(duì)電子元器件失效是由于某一功能參數(shù)超過了某一范圍引起的失效模式。例如，某一集成放大器要求在10～100MHz的帶寬內(nèi)有50dB的放大量，而其主要的失效模式是在頻帶邊緣放大小于50dB，使器件達(dá)不到預(yù)定功能而失效。針對(duì)這一失效模式可在功能設(shè)計(jì)的同時(shí)，采用擴(kuò)大容限的方法來控制失效模式，即把功能設(shè)計(jì)為從10～100MHz的帶寬擴(kuò)大為5～105MHz的帶寬內(nèi)有50dB的放大量，從而達(dá)到了控制這一失效模式的目的。
1.裕度設(shè)計(jì)
電子元器件失效模式中有一類是以某一性能參數(shù)超過某一極限值作為判據(jù)的失效，例如擊穿電壓、耗散功率、極限電流等。針對(duì)這一類失效模式，在進(jìn)行可靠性設(shè)計(jì)時(shí)可通過增加功能裕度來提高產(chǎn)品的可靠性。例如，主要失效模式是耗散功
率超過時(shí)，產(chǎn)品發(fā)生燒毀失效，在設(shè)計(jì)中使某最大耗散功率為+l API，其中I△P I就是功能裕度，顯然這樣的設(shè)計(jì)可以有效地控制燒毀這一失效模式。
2.功能容限設(shè)計(jì)
功能容限設(shè)計(jì)是針對(duì)電子元器件失效是由于某一功能參數(shù)超過了某一范圍引起的失效模式。例如，某一集成放大器要求在10～100MHz的帶寬內(nèi)有50dB的放大量，而其主要的失效模式是在頻帶邊緣放大小于50dB，使器件達(dá)不到預(yù)定功能而失效。針對(duì)這一失效模式可在功能設(shè)計(jì)的同時(shí)，采用擴(kuò)大容限的方法來控制失效模式，即把功能設(shè)計(jì)為從10～100MHz的帶寬擴(kuò)大為5～105MHz的帶寬內(nèi)有50dB的放大量，從而達(dá)到了控制這一失效模式的目的。
相關(guān)技術(shù)資料- 4-19耐熱設(shè)計(jì)技術(shù)
- 4-18方面的可靠性設(shè)計(jì)
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- SGM4684XG/TR
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