(1)擊穿，電極之M27C256B-15F6間短路或者斷路。
    (2)性能不良。
    (3)穩(wěn)定性差。
    集成電路
    集成電路常用的檢測(cè)方法有非在路測(cè)量法、在路測(cè)量法和代換法。
    非在路測(cè)量法
    非在路測(cè)量發(fā)是在集成電路未焊入電路（或于外圍電路完全脫開(kāi)）時(shí)對(duì)其進(jìn)行測(cè)量的方法。通過(guò)用指針式萬(wàn)用表測(cè)量集成電路各引腳與接地引腳之間的正、反向電阻值，或者用數(shù)字式萬(wàn)用表測(cè)量集成電路各引腳與接地引腳之間的正、反向壓降值，判斷其是否正常。
    如果有與被測(cè)試集成電路相同規(guī)格型號(hào)的完好集成電路，可以將兩者的測(cè)量結(jié)果逐一進(jìn)行比較對(duì)照，這樣判斷更加準(zhǔn)確無(wú)誤。

          
    用指針式萬(wàn)用表測(cè)量非在路集成電路
    1．測(cè)量方法
    將萬(wàn)用表置于R×Ik擋（或R×100、R×10擋）上，先把紅表筆接集成電路的接地引腳不變，然后用黑表筆依次接觸其他引腳，分別測(cè)出并記錄下各引腳對(duì)接地引腳的電阻值，如圖4. 66所示。
    現(xiàn)在互換兩支表筆，把黑表筆接集成電路的接地引腳不變，再用紅表筆依次接觸其他引腳，分別測(cè)出并記錄下各引腳對(duì)接地引腳的電阻值，如圖4.67所示。
    2．判斷原則
    用指針式萬(wàn)用表測(cè)量時(shí)，一般來(lái)說(shuō)，陳空腳外，集成電路的任何一只引腳與其接地引腳之間的電阻值不應(yīng)為零或無(wú)窮大；在大多數(shù)情況下，其正、反向電阻值不會(huì)相同，有時(shí)電阻值的差別比較小，有時(shí)相差懸殊。
    如果一只引腳與接地引腳之間的電阻值變?yōu)镺或無(wú)窮大，或者其、正反向電阻值原來(lái)有明顯差別，現(xiàn)在變?yōu)橄嗖顭o(wú)幾或差別的規(guī)律相反，則說(shuō)明該引腳與接地引腳之間的內(nèi)部電路存有短路、開(kāi)路、擊穿等故障。這樣的集成電路可能已經(jīng)損壞，或者性能變差。
    (1)正、反向電阻值不相等，可以判斷集成電路基本完好。
    (2)正、反向電阻值相等，集成電路可能性能變差或者損壞。
    (3)正、反向電阻值都為0，該兩極極間短路。
    (4)正、反向電阻值都為無(wú)窮大，該兩極極間開(kāi)路。
    如果有相同規(guī)格型號(hào)的完好集成電路，可以將兩者的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行對(duì)照，這樣可作出更加準(zhǔn)確的判斷。