工序檢驗(yàn)(檢測(cè))
發(fā)布時(shí)間:2014/5/21 21:21:05 訪問(wèn)次數(shù):574
工序檢驗(yàn)也稱工序檢測(cè)。SMT工序檢驗(yàn)的內(nèi)容包括印刷焊膏工序檢驗(yàn)、貼裝工序檢駿、再流焊工序檢驗(yàn)(焊后檢驗(yàn))和清洗工序檢驗(yàn)。AD779KN工序檢驗(yàn)是產(chǎn)品質(zhì)量管理過(guò)程控制的重要手段,具有
以下作用:通過(guò)每道工序的質(zhì)量檢測(cè),除了能夠控制每道工序的質(zhì)量外,還能有效控制和避免將前一道工序的缺陷帶入下一道工序中;有利于檢查缺陷的產(chǎn)生原因;能夠避免焊后返修;有利于
提高SMT的組裝質(zhì)量和生產(chǎn)效率;有利于通過(guò)最終產(chǎn)品的可性。
印刷焊膏工序檢驗(yàn)
為了保證SMT組裝質(zhì)量,必須嚴(yán)格控制印刷焊膏的質(zhì)量。有窄間距時(shí),必須全檢;無(wú)窄間距時(shí),可以定時(shí)檢測(cè)(如每小時(shí)一次),或按照取樣規(guī)則檢測(cè)。取樣規(guī)則見(jiàn)第8章表8-1。
施加焊膏要求詳見(jiàn)第8章8.1節(jié)。
1.檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
按照本企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或參照IPC或SJ/T10670-1995表面組裝工藝通用技術(shù)要求等標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
不同的工藝,檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)也略有不同。例如,需要焊后清洗的產(chǎn)品,焊膏覆蓋焊盤的面積達(dá)到75%以上即為合格,因?yàn)楹负笠逑矗∷⒃诤副P以外的焊膏、焊后可能產(chǎn)生的錫球能夠被清除掉;但是采用免清洗技術(shù)時(shí),印刷在焊盤以外的焊膏、焊后可能產(chǎn)生的錫球會(huì)影響可靠性,因此免清洗工藝可通過(guò)縮小模板開口尺寸的方法,使焊膏全部位于焊盤上;無(wú)鉛工藝中,由于無(wú)鉛焊
膏浸潤(rùn)性差,尤其當(dāng)PCB果用OSP(有機(jī)防護(hù)劑)時(shí),沒(méi)有被焊膏覆蓋的焊盤,焊后可能發(fā)生露銅現(xiàn)象,影響焊點(diǎn)的長(zhǎng)期可靠性,因此無(wú)鉛工藝要求焊膏覆蓋焊盤的面積達(dá)到100%(詳見(jiàn)第8章8.1節(jié)及圖8-1)。圖16-2為焊膏印刷缺陷示意圖。
2.檢驗(yàn)方法
印刷焊膏檢驗(yàn)方法有放大鏡和顯微鏡目視檢驗(yàn)。焊膏厚度測(cè)試儀檢驗(yàn)、2D AOI、3D SPI。一般較大的開口重復(fù)精度好,對(duì)Chip元件采用2D檢測(cè)就可以了,而對(duì)窄間距QFP、CSP、01005、POP等封裝,應(yīng)采用選擇性3D SPI檢測(cè)。詳見(jiàn)第8章8.5節(jié)9. (1)的內(nèi)容。
工序檢驗(yàn)也稱工序檢測(cè)。SMT工序檢驗(yàn)的內(nèi)容包括印刷焊膏工序檢驗(yàn)、貼裝工序檢駿、再流焊工序檢驗(yàn)(焊后檢驗(yàn))和清洗工序檢驗(yàn)。AD779KN工序檢驗(yàn)是產(chǎn)品質(zhì)量管理過(guò)程控制的重要手段,具有
以下作用:通過(guò)每道工序的質(zhì)量檢測(cè),除了能夠控制每道工序的質(zhì)量外,還能有效控制和避免將前一道工序的缺陷帶入下一道工序中;有利于檢查缺陷的產(chǎn)生原因;能夠避免焊后返修;有利于
提高SMT的組裝質(zhì)量和生產(chǎn)效率;有利于通過(guò)最終產(chǎn)品的可性。
印刷焊膏工序檢驗(yàn)
為了保證SMT組裝質(zhì)量,必須嚴(yán)格控制印刷焊膏的質(zhì)量。有窄間距時(shí),必須全檢;無(wú)窄間距時(shí),可以定時(shí)檢測(cè)(如每小時(shí)一次),或按照取樣規(guī)則檢測(cè)。取樣規(guī)則見(jiàn)第8章表8-1。
施加焊膏要求詳見(jiàn)第8章8.1節(jié)。
1.檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
按照本企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或參照IPC或SJ/T10670-1995表面組裝工藝通用技術(shù)要求等標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
不同的工藝,檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)也略有不同。例如,需要焊后清洗的產(chǎn)品,焊膏覆蓋焊盤的面積達(dá)到75%以上即為合格,因?yàn)楹负笠逑,印刷在焊盤以外的焊膏、焊后可能產(chǎn)生的錫球能夠被清除掉;但是采用免清洗技術(shù)時(shí),印刷在焊盤以外的焊膏、焊后可能產(chǎn)生的錫球會(huì)影響可靠性,因此免清洗工藝可通過(guò)縮小模板開口尺寸的方法,使焊膏全部位于焊盤上;無(wú)鉛工藝中,由于無(wú)鉛焊
膏浸潤(rùn)性差,尤其當(dāng)PCB果用OSP(有機(jī)防護(hù)劑)時(shí),沒(méi)有被焊膏覆蓋的焊盤,焊后可能發(fā)生露銅現(xiàn)象,影響焊點(diǎn)的長(zhǎng)期可靠性,因此無(wú)鉛工藝要求焊膏覆蓋焊盤的面積達(dá)到100%(詳見(jiàn)第8章8.1節(jié)及圖8-1)。圖16-2為焊膏印刷缺陷示意圖。
2.檢驗(yàn)方法
印刷焊膏檢驗(yàn)方法有放大鏡和顯微鏡目視檢驗(yàn)。焊膏厚度測(cè)試儀檢驗(yàn)、2D AOI、3D SPI。一般較大的開口重復(fù)精度好,對(duì)Chip元件采用2D檢測(cè)就可以了,而對(duì)窄間距QFP、CSP、01005、POP等封裝,應(yīng)采用選擇性3D SPI檢測(cè)。詳見(jiàn)第8章8.5節(jié)9. (1)的內(nèi)容。
熱門點(diǎn)擊
- 焊料過(guò)多、焊點(diǎn)橋接或短路
- 二次熔錫問(wèn)題
- 焊盤及阻焊層設(shè)計(jì)
- J形引腳小外形集成電路
- 慢速冷卻與快速冷卻速率溫度曲線參數(shù)比較
- 冷卻速率控制在什么范圍
- 助焊劑的分類和組成
- 對(duì)于電源和地是對(duì)角的IC引腳的DIP封裝
- 印刷機(jī)
- 帶狀線
推薦技術(shù)資料
- 自制智能型ICL7135
- 表頭使ff11CL7135作為ADC,ICL7135是... [詳細(xì)]
- 全集成直接飛行時(shí)間(dToF)傳感器
- 2025年半導(dǎo)體市場(chǎng)發(fā)展趨勢(shì)未
- GW2A系列FPGA芯片應(yīng)用參數(shù)
- DDR類儲(chǔ)存器接口解決方案
- 2.5G bps MIPI D
- 新一代 Arora-V系列FPGA產(chǎn)品詳情
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究