1．全波片

   選擇晶片的厚度，IRF840PBF使o光和e光之間的周相差A(yù)ctp或2-n其整數(shù)倍，將不改變?nèi)肷涔庠?/span>的偏振態(tài)，這樣的器件叫全波片。需要注意全波片只是對(duì)某一特定波長(zhǎng)而言的。

   2．半波片

   選擇適當(dāng)?shù)木穸�，使出射時(shí)o、e兩光的周相差A(yù)c;p不rr或其奇數(shù)倍，這就是半波片或稱1/2波片。如圖8-3所示，入射的線偏振光e若與光鈾成p角，從半波片出射的仍是線偏振光e，但振動(dòng)方向轉(zhuǎn)過(guò)20角。當(dāng)p取450時(shí)，振動(dòng)方向轉(zhuǎn)過(guò)900，橢圓偏振光入射半波片后，出射的橢圓偏振光長(zhǎng)軸方位與旋轉(zhuǎn)方向均發(fā)生改變。

   若晶片厚度恰好使o光與e光穿越時(shí)產(chǎn)生n/2或其奇數(shù)倍的周相差，這種晶片稱為1/4波片。在正入射條件下，振動(dòng)方向與1/4波片光軸成p角的線偏振光通過(guò)波片后，一般為橢圓偏振光。若p =450，o光與e光振幅相等，出射光為圓偏振光，反過(guò)來(lái)，入射光若是圓偏振光，從1/4波片出射的是線偏振光。

   1/4波片常用石英、云母或有機(jī)聚合塑料制成。應(yīng)用1/4波片與檢偏振器相配合，可以檢驗(yàn)圓偏振光和橢圓偏振光，檢測(cè)原理見(jiàn)圖8-4。

   用檢偏振器檢驗(yàn)圓偏振光時(shí)，隨著偏振片透光方向的轉(zhuǎn)動(dòng)，透射光的強(qiáng)度保持不變。這與檢驗(yàn)自然光的結(jié)果相同。為了區(qū)分兩者，可令入射光先透過(guò)1/4波片，再用檢偏振器檢驗(yàn)，檢偏振器透光方向轉(zhuǎn)過(guò)900，透射光強(qiáng)交替出現(xiàn)一次極大和一次消光，則入射光是圓偏振光；若轉(zhuǎn)動(dòng)檢偏振器時(shí)透射光強(qiáng)保持不變，則入射光是自然光。這是因?yàn)閳A偏振光的兩垂直分振動(dòng)原有rr/2周相差，經(jīng)過(guò)1/4波片后，又獲得士rr/2的周相差，o光和e光從1/4波片出射時(shí)，周相差為耵或0，合成為線偏振光，而自然光通過(guò)1/4波片不能出射線偏振光。

   用檢偏振器檢驗(yàn)橢圓光時(shí)，檢偏振器透光方向轉(zhuǎn)過(guò)900，透射光強(qiáng)度從極大變?yōu)闃O小，再轉(zhuǎn)900，又由極小變?yōu)闃O大，但無(wú)消光，這與檢驗(yàn)部分偏振光相同。為了區(qū)分這兩種偏振態(tài)，可先用檢偏器測(cè)出透射光強(qiáng)度極大和極小的位置，然后在檢偏振器前面加一個(gè)1/4波片，使其光軸與這兩個(gè)位置之一重合。若入射光是橢圓光，平行與垂直于波片光軸的兩個(gè)分振劫原有rr/2周相差，經(jīng)過(guò)1/4波片又獲得士7r/2周相差，出射時(shí)兩個(gè)分振動(dòng)的周相差變?yōu)?T或0，因此合成線偏振光，可由后面的偏振片檢驗(yàn)確定。部分偏振光通過(guò)1/4波片，則不能形成線偏振光。

   在后面頻率調(diào)制檢測(cè)系統(tǒng)章節(jié)中介紹的雙頻測(cè)長(zhǎng)儀、折射率干涉儀等光路中，將見(jiàn)到1/4波片的各種應(yīng)用。