雙頻激光測長儀與單頻干涉儀相比的特點
發(fā)布時間:2015/5/14 22:07:29 訪問次數(shù):1910
兩者都是以光波波長為標準對被測長度進行精密度量的儀器,區(qū)別如下:
(1)單頻激光干涉儀中,ICB2FL02G可動的M2鏡移動時引起兩臂相位差改變,直接檢測的是兩臂光束干涉條紋強度和對比度的變動,屬于相位檢測系統(tǒng);
雙頻測長儀中,M2鏡移動引起多普勒頻移,直接檢測的是測量信號與參考信號的頻率差,所以,屬于頻率調制檢測系統(tǒng)。
(2)當M2鏡不動時,前者的干涉信號是介于最亮與最暗之間的直流信號,而后者的干涉信號是頻率為f2 - fi的交流信號;當M2鏡移動時,前者的干涉信號是在最亮與最暗之間緩慢變化,而后者是使原來的交流信號頻率增減Af,仍然是交流信號。后者可用高放大倍數(shù)的交流放大器增強較弱的干涉信號,克服由于光強衰減、大氣擾動及電子線路直流漂移等因素對測量精度的影響。目前,雙頻測長的精度已超過0. Olym,是工業(yè)測長中較精密的儀器。
(3)單頻干涉儀對裝置的機械振動十分敏感,因此對工作臺穩(wěn)定性有嚴格要求。振動越強,干涉條紋的來回移動越激烈,計數(shù)時必須相應地進行加減;雙頻測長儀的干涉條紋是運動的,按時間順序入射到光檢測器上,因而對振動不敏感,防振要求不嚴,可以用于計量室之外的車間工作環(huán)境等。
兩者都是以光波波長為標準對被測長度進行精密度量的儀器,區(qū)別如下:
(1)單頻激光干涉儀中,ICB2FL02G可動的M2鏡移動時引起兩臂相位差改變,直接檢測的是兩臂光束干涉條紋強度和對比度的變動,屬于相位檢測系統(tǒng);
雙頻測長儀中,M2鏡移動引起多普勒頻移,直接檢測的是測量信號與參考信號的頻率差,所以,屬于頻率調制檢測系統(tǒng)。
(2)當M2鏡不動時,前者的干涉信號是介于最亮與最暗之間的直流信號,而后者的干涉信號是頻率為f2 - fi的交流信號;當M2鏡移動時,前者的干涉信號是在最亮與最暗之間緩慢變化,而后者是使原來的交流信號頻率增減Af,仍然是交流信號。后者可用高放大倍數(shù)的交流放大器增強較弱的干涉信號,克服由于光強衰減、大氣擾動及電子線路直流漂移等因素對測量精度的影響。目前,雙頻測長的精度已超過0. Olym,是工業(yè)測長中較精密的儀器。
(3)單頻干涉儀對裝置的機械振動十分敏感,因此對工作臺穩(wěn)定性有嚴格要求。振動越強,干涉條紋的來回移動越激烈,計數(shù)時必須相應地進行加減;雙頻測長儀的干涉條紋是運動的,按時間順序入射到光檢測器上,因而對振動不敏感,防振要求不嚴,可以用于計量室之外的車間工作環(huán)境等。
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