組裝件應(yīng)滿足清潔度要求,以下方G916-280TOUF法用于評(píng)估殘留顆粒、異物、助焊劑殘留物和其他離子或有機(jī)雜質(zhì)的數(shù)量。

   (l)人工目檢

   人工目檢用于評(píng)估外來(lái)顆粒物質(zhì)的存在,或助焊劑殘留物和其他離子或有機(jī)雜質(zhì)。如果人工目檢作為工藝過(guò)程控制和產(chǎn)品改進(jìn)系統(tǒng)的一部分,可以以抽樣的方式進(jìn)行。

   (2)測(cè)試

   如果需要進(jìn)行測(cè)試,則最后清洗完成后(覆形涂覆、灌封或進(jìn)入下一級(jí)較高層次的裝配之前)的印制電路組裝件應(yīng)進(jìn)行定期的清潔度測(cè)試。這項(xiàng)測(cè)試應(yīng)采用隨機(jī)樣本取樣的方式進(jìn)行,以確認(rèn)清洗工藝的穩(wěn)定性。如果出現(xiàn)清潔度測(cè)試不合格的情況,這一整批次就需要進(jìn)行重新清洗。從上次清潔度測(cè)試合格以來(lái)的所有批次和這一批次均應(yīng)進(jìn)行重新測(cè)試。測(cè)試頻度至少應(yīng)是每班(8小時(shí))1次,除過(guò)程控制系統(tǒng)數(shù)據(jù)支持頻度改變的除外。