測(cè)試程序?qū)Υ郎y(cè)元件做電性測(cè)試規(guī)劃,包含:

   (l)定義測(cè)試項(xiàng)目,項(xiàng)目順序流程、頻率、TC74VHC138FT電壓、電流、波形、矢量(vector)、圖形(pattcrn)、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(test specificati°n),等等,最后對(duì)測(cè)試結(jié)果評(píng)判好壞(pass/%il)與等級(jí)(grade),并做分類(binning)。

   (2)測(cè)試項(xiàng)目包含有開短路測(cè)試.漏電流測(cè)試,電源電流測(cè)試.參數(shù)測(cè)試,基本功能測(cè)試,串?dāng)_測(cè)試.掃描測(cè)試,J【m測(cè)試,白動(dòng)測(cè)試圖形生成(ATPG)測(cè)試,等等。

   (3)測(cè)試數(shù)據(jù)管理與分析,包括電性參數(shù)數(shù)據(jù),批次良率,圓片圖,冗余修復(fù)數(shù)據(jù),等等。理想的測(cè)試程序追求有最高的覆蓋率,最短的測(cè)試時(shí)問,最佳的良率,最好的質(zhì)董。

   特性分析測(cè)試

   特性分析測(cè)試(characterization analysis test)用來驗(yàn)證芯片的功能以及性能與設(shè)汁日標(biāo)的差異,包含時(shí)序、操作電源電斥Ⅱ電流、輸人出電壓和電流、操作速度、上升/下降時(shí)間(rise/fal11iY11e)、設(shè)立∷維持時(shí)閘(setup hold time).等等: