數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)測試實(shí)例

1.被測器件介紹A04423

器件具有16個信號處理通道,每個通道都帶有數(shù)模轉(zhuǎn)換器,能夠?qū)ⅰ?位數(shù)字信號轉(zhuǎn)換成模擬信號,兼容sPI串行通信協(xié)議,寫時鐘頻率可達(dá)50MHz,回讀模式時鐘頻率也可達(dá)到⒛MHz時鐘頻率,所有寄存器均能寫和回讀。具備復(fù)位功能、GPIO功能、POWER-DOWM功能、固結(jié)模式、CLEAR功能、LDAC功能、數(shù)據(jù)選擇功能和數(shù)據(jù)更新功能�？赏瑫r或者分別控制每個信號通道,且能單獨(dú)尋址。集成GPIo功能,可監(jiān)視器件內(nèi)部工作狀態(tài)。該器件采用四線SPI接口,sYNC為幀同步信號,SDI為串行數(shù)據(jù)輸入信號,sCLK為串行時鐘信號,sDo為串行數(shù)據(jù)輸出信號。一幀串行數(shù)據(jù)為妍位字長,2位模式位,6位地址位,12位數(shù)據(jù)位。

2,測試需求分析

目前己有高端測試平臺配置只能完成8路D/A的測試,更多路D/A往往通過設(shè)計(jì)測試評估板,通過外接儀表進(jìn)行手工測試,從而導(dǎo)致測試步驟煩瑣,測試效率低下。這種情況在項(xiàng)目驗(yàn)證時尚可接受,但在高低溫測試及批量供貨測試時則變得難以接受。為完成多路D/A的ATE機(jī)臺測試,就需要對系統(tǒng)通道進(jìn)行擴(kuò)展從而提升其測試能力,但擴(kuò)展的同時會由于繼電器本身的參數(shù)(導(dǎo)通電阻、絕緣電阻、帶寬等)帶來測試誤差,為解決擴(kuò)展通道對測試精度的影響,確保提升測試能力后參數(shù)測試的準(zhǔn)確性和可靠性,需要對多路D/A的參數(shù)測試方法和通道拓展方法進(jìn)行研究。

3.總體測試方案

為實(shí)現(xiàn)較高的測試效率,本方案主要采用繼電器對ATE進(jìn)行測試能力拓展,拓展的同時會帶來測試誤差。誤差是不可避免的,但需要找出影響誤差的因素和對測試結(jié)果影響的程度,采取必要的措施來保證測試精度。為找到繼電器對測試結(jié)果的影響,設(shè)計(jì)了8CH×2壩刂試板(見圖4-30)和16CH(見圖4名D兩種測試板對其進(jìn)行驗(yàn)證,一種采用跳線的方式,另一種采用繼電器進(jìn)行切換,通過對其數(shù)據(jù)的對比和分析找出影響的參數(shù)和誤差的來源,并采取必要措施進(jìn)行改進(jìn)。