可靠性設(shè)計指標(biāo)
發(fā)布時間:2012/4/26 19:43:32 訪問次數(shù):763
半導(dǎo)體分立器件的CL6804可靠性設(shè)計指標(biāo)主要是：
①器件主要性能、參數(shù)在規(guī)定條件下隨時間的穩(wěn)定程度。器件隨著使用時間的增加可能會發(fā)生性能參數(shù)漂移超出產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范而失效，因此在設(shè)計時應(yīng)對器件關(guān)鍵參數(shù)的穩(wěn)定性進行考慮和控制。
②器件所能適應(yīng)的環(huán)境應(yīng)力范圍。電子器件常遇到環(huán)境應(yīng)力（機械應(yīng)力、氣候應(yīng)力、輻射環(huán)境等），對于一般用途的器件應(yīng)能通過相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的環(huán)境試驗項目，特殊用途的器件還應(yīng)通過特殊的環(huán)境試驗項目。
③器件的質(zhì)量等級。
④必須消除或控制的失效模式或機理。失效模式或機理是失效的實質(zhì)內(nèi)容，失效模式（或機理）及其分布（失效模式模型）是新產(chǎn)品可靠性設(shè)計的基礎(chǔ)。通過對國內(nèi)外相似產(chǎn)品的調(diào)研和失效模式分析，掌握其主要失效模式的失效機理，并確定
下述問題：
·這些失效模式或機理與哪些主要性能參數(shù)有關(guān)，盡量建立起相關(guān)的數(shù)學(xué)、物理模型，描述兩者間的定量關(guān)系。
·主要失效模式的嚴(yán)重程度與產(chǎn)品的線路、版圖、工藝、封裝等的關(guān)系，以便通過可靠性設(shè)計來實現(xiàn)防止和控制這些失效模式的程度。
·根據(jù)器件所能適應(yīng)環(huán)境的應(yīng)力范圍、失效率、平均壽命或質(zhì)量等級分析和研制任務(wù)的要求，確定哪些失效模式、機理必須消除或控制及控制的程度。
①器件主要性能、參數(shù)在規(guī)定條件下隨時間的穩(wěn)定程度。器件隨著使用時間的增加可能會發(fā)生性能參數(shù)漂移超出產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范而失效，因此在設(shè)計時應(yīng)對器件關(guān)鍵參數(shù)的穩(wěn)定性進行考慮和控制。
②器件所能適應(yīng)的環(huán)境應(yīng)力范圍。電子器件常遇到環(huán)境應(yīng)力（機械應(yīng)力、氣候應(yīng)力、輻射環(huán)境等），對于一般用途的器件應(yīng)能通過相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的環(huán)境試驗項目，特殊用途的器件還應(yīng)通過特殊的環(huán)境試驗項目。
③器件的質(zhì)量等級。
④必須消除或控制的失效模式或機理。失效模式或機理是失效的實質(zhì)內(nèi)容，失效模式（或機理）及其分布（失效模式模型）是新產(chǎn)品可靠性設(shè)計的基礎(chǔ)。通過對國內(nèi)外相似產(chǎn)品的調(diào)研和失效模式分析，掌握其主要失效模式的失效機理，并確定
下述問題：
·這些失效模式或機理與哪些主要性能參數(shù)有關(guān)，盡量建立起相關(guān)的數(shù)學(xué)、物理模型，描述兩者間的定量關(guān)系。
·主要失效模式的嚴(yán)重程度與產(chǎn)品的線路、版圖、工藝、封裝等的關(guān)系，以便通過可靠性設(shè)計來實現(xiàn)防止和控制這些失效模式的程度。
·根據(jù)器件所能適應(yīng)環(huán)境的應(yīng)力范圍、失效率、平均壽命或質(zhì)量等級分析和研制任務(wù)的要求，確定哪些失效模式、機理必須消除或控制及控制的程度。
半導(dǎo)體分立器件的CL6804可靠性設(shè)計指標(biāo)主要是：
①器件主要性能、參數(shù)在規(guī)定條件下隨時間的穩(wěn)定程度。器件隨著使用時間的增加可能會發(fā)生性能參數(shù)漂移超出產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范而失效，因此在設(shè)計時應(yīng)對器件關(guān)鍵參數(shù)的穩(wěn)定性進行考慮和控制。
②器件所能適應(yīng)的環(huán)境應(yīng)力范圍。電子器件常遇到環(huán)境應(yīng)力（機械應(yīng)力、氣候應(yīng)力、輻射環(huán)境等），對于一般用途的器件應(yīng)能通過相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的環(huán)境試驗項目，特殊用途的器件還應(yīng)通過特殊的環(huán)境試驗項目。
③器件的質(zhì)量等級。
④必須消除或控制的失效模式或機理。失效模式或機理是失效的實質(zhì)內(nèi)容，失效模式（或機理）及其分布（失效模式模型）是新產(chǎn)品可靠性設(shè)計的基礎(chǔ)。通過對國內(nèi)外相似產(chǎn)品的調(diào)研和失效模式分析，掌握其主要失效模式的失效機理，并確定
下述問題：
·這些失效模式或機理與哪些主要性能參數(shù)有關(guān)，盡量建立起相關(guān)的數(shù)學(xué)、物理模型，描述兩者間的定量關(guān)系。
·主要失效模式的嚴(yán)重程度與產(chǎn)品的線路、版圖、工藝、封裝等的關(guān)系，以便通過可靠性設(shè)計來實現(xiàn)防止和控制這些失效模式的程度。
·根據(jù)器件所能適應(yīng)環(huán)境的應(yīng)力范圍、失效率、平均壽命或質(zhì)量等級分析和研制任務(wù)的要求，確定哪些失效模式、機理必須消除或控制及控制的程度。
①器件主要性能、參數(shù)在規(guī)定條件下隨時間的穩(wěn)定程度。器件隨著使用時間的增加可能會發(fā)生性能參數(shù)漂移超出產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范而失效，因此在設(shè)計時應(yīng)對器件關(guān)鍵參數(shù)的穩(wěn)定性進行考慮和控制。
②器件所能適應(yīng)的環(huán)境應(yīng)力范圍。電子器件常遇到環(huán)境應(yīng)力（機械應(yīng)力、氣候應(yīng)力、輻射環(huán)境等），對于一般用途的器件應(yīng)能通過相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的環(huán)境試驗項目，特殊用途的器件還應(yīng)通過特殊的環(huán)境試驗項目。
③器件的質(zhì)量等級。
④必須消除或控制的失效模式或機理。失效模式或機理是失效的實質(zhì)內(nèi)容，失效模式（或機理）及其分布（失效模式模型）是新產(chǎn)品可靠性設(shè)計的基礎(chǔ)。通過對國內(nèi)外相似產(chǎn)品的調(diào)研和失效模式分析，掌握其主要失效模式的失效機理，并確定
下述問題：
·這些失效模式或機理與哪些主要性能參數(shù)有關(guān)，盡量建立起相關(guān)的數(shù)學(xué)、物理模型，描述兩者間的定量關(guān)系。
·主要失效模式的嚴(yán)重程度與產(chǎn)品的線路、版圖、工藝、封裝等的關(guān)系，以便通過可靠性設(shè)計來實現(xiàn)防止和控制這些失效模式的程度。
·根據(jù)器件所能適應(yīng)環(huán)境的應(yīng)力范圍、失效率、平均壽命或質(zhì)量等級分析和研制任務(wù)的要求，確定哪些失效模式、機理必須消除或控制及控制的程度。
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