測試硬件
發(fā)布時間:2017/11/21 21:36:11 訪問次數(shù):245
白動測試設(shè)備可以根據(jù)測試軟件的規(guī)劃對待測元件(Device Under Tcst,F)UT)做電性測試。TC74VHC138FN一套白動測試設(shè)備主要包含主機(mainfraΠ1c),測試頭(tcst hcad)。分類機或針測機(handler or prol)er)以及電腦服務(wù)器(computer scrver)。此外.還有各的負載板(load b°ard)和針測板(prbe card)。
半導(dǎo)體元件的速度越來越快,功能越來越復(fù)雜,意味著需要更先進的白動測試設(shè)備.吏長的測試時間,測試成本也越來越貴。一套數(shù)GHz,數(shù)千管腳的測試設(shè)備價值數(shù)百萬美元。為減低測試成本,囚此發(fā)展了各種可測性設(shè)計技術(shù)。透過可測性沒計.冖∫以降低測試頻率、減少管腳、降低機臺性能的要求,同時也降低測試復(fù)雜度,減短測試時間。
分類機(handlcr)和圓片針測機(wafer prol)er)有兩大主要功能.第一是提供芯片試機臺接觸的接凵,第二是作為芯片測試結(jié)果好壞、優(yōu)劣分類的機器設(shè)備。分類機處理封裝后的芯片,針測機處理封裝前的圓片。
白動測試設(shè)備可以根據(jù)測試軟件的規(guī)劃對待測元件(Device Under Tcst,F)UT)做電性測試。TC74VHC138FN一套白動測試設(shè)備主要包含主機(mainfraΠ1c),測試頭(tcst hcad)。分類機或針測機(handler or prol)er)以及電腦服務(wù)器(computer scrver)。此外.還有各的負載板(load b°ard)和針測板(prbe card)。
半導(dǎo)體元件的速度越來越快,功能越來越復(fù)雜,意味著需要更先進的白動測試設(shè)備.吏長的測試時間,測試成本也越來越貴。一套數(shù)GHz,數(shù)千管腳的測試設(shè)備價值數(shù)百萬美元。為減低測試成本,囚此發(fā)展了各種可測性設(shè)計技術(shù)。透過可測性沒計.冖∫以降低測試頻率、減少管腳、降低機臺性能的要求,同時也降低測試復(fù)雜度,減短測試時間。
分類機(handlcr)和圓片針測機(wafer prol)er)有兩大主要功能.第一是提供芯片試機臺接觸的接凵,第二是作為芯片測試結(jié)果好壞、優(yōu)劣分類的機器設(shè)備。分類機處理封裝后的芯片,針測機處理封裝前的圓片。
熱門點擊
- 化學(xué)氣相沉積法和原子層沉積法的主要優(yōu)缺點
- 曝光后烘焙
- RF2的作用是產(chǎn)生負的偏壓
- 鋁墊刻蝕通常是在LAM2300Versys
- 貼片(Die Attach)
- 柵極氧化介電層-氮氧化硅
- NMOS器件的驅(qū)動電流都會隨應(yīng)力增加而增加
- 改善光學(xué)鄰近效應(yīng)修正的精確度和可靠性
- 設(shè)置參數(shù)P1910
- SI-CCD是商用PEM系統(tǒng)傳統(tǒng)的微光探頭
推薦技術(shù)資料
- 聲道前級設(shè)計特點
- 與通常的Hi-Fi前級不同，EP9307-CRZ這臺分... [詳細]
- 人形機器人市場未來發(fā)展格局前景預(yù)測
- 新一代航空器用激光雷達CES2
- SPAD-SoC集成1080-
- 全球首款1080線激光雷達應(yīng)用
- 激光雷達行業(yè)市場發(fā)展新動態(tài)
- AI時代存儲技術(shù)產(chǎn)品走向趨勢
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究
公網(wǎng)安備44030402000607
