白動測試設(shè)備可以根據(jù)測試軟件的規(guī)劃對待測元件(Device Under Tcst,F)UT)做電性測試。TC74VHC138FN一套白動測試設(shè)備主要包含主機(jī)(mainfraΠ1c),測試頭(tcst hcad)。分類機(jī)或針測機(jī)(handler or prol)er)以及電腦服務(wù)器(computer scrver)。此外.還有各的負(fù)載板(load b°ard)和針測板(prbe card)。

   半導(dǎo)體元件的速度越來越快,功能越來越復(fù)雜,意味著需要更先進(jìn)的白動測試設(shè)備.吏長的測試時(shí)間,測試成本也越來越貴。一套數(shù)GHz,數(shù)千管腳的測試設(shè)備價(jià)值數(shù)百萬美元。為減低測試成本,囚此發(fā)展了各種可測性設(shè)計(jì)技術(shù)。透過可測性沒計(jì).冖∫以降低測試頻率、減少管腳、降低機(jī)臺性能的要求,同時(shí)也降低測試復(fù)雜度,減短測試時(shí)間。

   分類機(jī)(handlcr)和圓片針測機(jī)(wafer prol)er)有兩大主要功能.第一是提供芯片試機(jī)臺接觸的接凵,第二是作為芯片測試結(jié)果好壞、優(yōu)劣分類的機(jī)器設(shè)備。分類機(jī)處理封裝后的芯片,針測機(jī)處理封裝前的圓片。