BTABERT的仿真過程及原理
發(fā)布時(shí)間:2016/7/2 18:16:11 訪問次數(shù):738
BTABERT(簡稱BERT)是電路可靠性仿真器,由前后兩個(gè)處理器ⅡuBERT和POSTBERT組成, AD8018AR通過SPICE仿真器鏈接起來。BERT的輸入文件是sPICE網(wǎng)表文件,其中包括SPICE網(wǎng)表、BERT可靠性參數(shù)模型和BERT命令。SPICE仿真器用來產(chǎn)生可靠性計(jì)算中所需的電壓與電流,如圖10.1所示。BERT包含4個(gè)模擬單元:MOS熱載流子、雙極熱載流子、電遷移和氧化層模擬單元,如圖10.2所示。
這種方法以集成電路的物理失效機(jī)理為基礎(chǔ),包括了IC主要的退化模型(EM、HCI、NBTI和TDDB)。仿真的主要步驟:首先,確定電路中每一種失效機(jī)理的可靠性參數(shù)(主要通過對(duì)單一失效機(jī)理的可靠性加速壽命試驗(yàn)得到),之后利用SPICE等電路仿真器計(jì)算器件初始化電參數(shù)及器件退化后的電參數(shù),并以此預(yù)測(cè)器件的退化和失效情況,從而評(píng)價(jià)電路的可靠性。
通過集成電路的可靠性仿真,發(fā)現(xiàn)電路設(shè)計(jì)中的可靠性薄弱環(huán)節(jié),并在電路性能和可靠性之間進(jìn)行合理的折中,均衡各失效機(jī)理的可靠性水平,從而保證整個(gè)電路產(chǎn)品的可靠性。
BTABERT(簡稱BERT)是電路可靠性仿真器,由前后兩個(gè)處理器ⅡuBERT和POSTBERT組成, AD8018AR通過SPICE仿真器鏈接起來。BERT的輸入文件是sPICE網(wǎng)表文件,其中包括SPICE網(wǎng)表、BERT可靠性參數(shù)模型和BERT命令。SPICE仿真器用來產(chǎn)生可靠性計(jì)算中所需的電壓與電流,如圖10.1所示。BERT包含4個(gè)模擬單元:MOS熱載流子、雙極熱載流子、電遷移和氧化層模擬單元,如圖10.2所示。
這種方法以集成電路的物理失效機(jī)理為基礎(chǔ),包括了IC主要的退化模型(EM、HCI、NBTI和TDDB)。仿真的主要步驟:首先,確定電路中每一種失效機(jī)理的可靠性參數(shù)(主要通過對(duì)單一失效機(jī)理的可靠性加速壽命試驗(yàn)得到),之后利用SPICE等電路仿真器計(jì)算器件初始化電參數(shù)及器件退化后的電參數(shù),并以此預(yù)測(cè)器件的退化和失效情況,從而評(píng)價(jià)電路的可靠性。
通過集成電路的可靠性仿真,發(fā)現(xiàn)電路設(shè)計(jì)中的可靠性薄弱環(huán)節(jié),并在電路性能和可靠性之間進(jìn)行合理的折中,均衡各失效機(jī)理的可靠性水平,從而保證整個(gè)電路產(chǎn)品的可靠性。
熱門點(diǎn)擊
- N型半導(dǎo)體中摻入的雜質(zhì)為磷或其他五價(jià)元素
- 鋁與硅
- 電遷移效應(yīng)的影響因素
- 集成電路的主要失效機(jī)理
- 直接觀察法
- MOs電容的設(shè)計(jì)
- 抗電遷移措施
- 離子注入的特點(diǎn)
- 輻射加熱
- 芯片燒毀
推薦技術(shù)資料
- 業(yè)余條件下PCM2702
- PGM2702采用SSOP28封裝,引腳小而密,EP3... [詳細(xì)]
- DC/DC 轉(zhuǎn)換器數(shù)字模擬輸入
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