雙面板上密集的組裝元件常常導(dǎo)致陰影
發(fā)布時(shí)間:2014/5/22 20:59:42 訪問(wèn)次數(shù):554
雙面板上密集的組裝元件常常導(dǎo)致陰影。LM339DR雖然X射線頭和被測(cè)工件的工作臺(tái)設(shè)計(jì)為旋轉(zhuǎn)式,可以從不同角度進(jìn)行檢測(cè),但有時(shí)效果不明顯。為了有效地判斷復(fù)雜和不明顯缺陷,有的設(shè)備制
造商開(kāi)發(fā)了“信號(hào)確認(rèn)”軟件。例如,根據(jù)回流焊后X-光圖形中焊球的尺寸改變及均勻一致性,來(lái)評(píng)估和判斷X-光圖像的真正含義。下面介紹如何根據(jù)BGA、CSP回流焊工藝過(guò)程中三個(gè)階段焊球直徑的變化和X-光圖像的蚜勻性來(lái)判斷某些焊接缺陷。
63Sn-37Pb焊料回流焊工藝過(guò)程中,三個(gè)階段焊球直徑的變化(見(jiàn)圖16-12) A階段(150℃預(yù)熱階段、焊球未熔化),BGA站立高度等于焊球高度。
B階段(開(kāi)始塌陷階段或稱一次下沉),當(dāng)溫度上升到183℃時(shí),焊球開(kāi)始熔化,進(jìn)入塌陷階段,此時(shí)焊球的站立高度降至初始焊球高度的80%。
C階段(最后塌陷階段或稱二次下沉),當(dāng)溫度上升到230℃時(shí),焊球充分熔化,并與焊膏熔在一起,在焊球上、下兩個(gè)界面形成結(jié)合層,此時(shí)焊球的站立高度降至初始焊球高度的50%,X光圖上球的直徑增至17%,導(dǎo)致突出面積增加37%。
雙面板上密集的組裝元件常常導(dǎo)致陰影。LM339DR雖然X射線頭和被測(cè)工件的工作臺(tái)設(shè)計(jì)為旋轉(zhuǎn)式,可以從不同角度進(jìn)行檢測(cè),但有時(shí)效果不明顯。為了有效地判斷復(fù)雜和不明顯缺陷,有的設(shè)備制
造商開(kāi)發(fā)了“信號(hào)確認(rèn)”軟件。例如,根據(jù)回流焊后X-光圖形中焊球的尺寸改變及均勻一致性,來(lái)評(píng)估和判斷X-光圖像的真正含義。下面介紹如何根據(jù)BGA、CSP回流焊工藝過(guò)程中三個(gè)階段焊球直徑的變化和X-光圖像的蚜勻性來(lái)判斷某些焊接缺陷。
63Sn-37Pb焊料回流焊工藝過(guò)程中,三個(gè)階段焊球直徑的變化(見(jiàn)圖16-12) A階段(150℃預(yù)熱階段、焊球未熔化),BGA站立高度等于焊球高度。
B階段(開(kāi)始塌陷階段或稱一次下沉),當(dāng)溫度上升到183℃時(shí),焊球開(kāi)始熔化,進(jìn)入塌陷階段,此時(shí)焊球的站立高度降至初始焊球高度的80%。
C階段(最后塌陷階段或稱二次下沉),當(dāng)溫度上升到230℃時(shí),焊球充分熔化,并與焊膏熔在一起,在焊球上、下兩個(gè)界面形成結(jié)合層,此時(shí)焊球的站立高度降至初始焊球高度的50%,X光圖上球的直徑增至17%,導(dǎo)致突出面積增加37%。
熱門點(diǎn)擊
- 工藝流程的設(shè)計(jì)原則
- 焊接溫度和焊接時(shí)間
- 采用專用工具馬蹄形烙鐵頭焊接
- 改變表面張力與黏度的措施
- PQFP (Plastic Quad Fl
- 對(duì)濕度敏感器件(MSD)昀管理和控制措施
- 鉻在焊料中的作用
- 電子系統(tǒng)中靜電放電感應(yīng)效應(yīng)可分為以下三類
- SMC/SMD的焊端結(jié)構(gòu)
- 非ODS清洗介紹
推薦技術(shù)資料
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